Spektromikroskopische Untersuchungen an ... - OPUS Würzburg
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136 A Verwendete Abkürzungen<br />
PED<br />
PEEM<br />
PES<br />
PEY<br />
PISAM<br />
PTCDA<br />
SAM<br />
SEM<br />
SMART<br />
SPALEED<br />
SPELEEM<br />
SPEM<br />
STM<br />
STXM<br />
TEM<br />
TEY<br />
TPD<br />
UPS<br />
UHV<br />
X-PEEM<br />
XPS<br />
XRD<br />
XSW<br />
Photoelektronenbeugung<br />
Photoelektronenemissionsmikroskop<br />
Photoelektronenspektroskopie<br />
Partial Electron Yield<br />
Photoneninduziertes Rasteraugerelektronenmikroskop<br />
3,4,9,10-Perylen-Tetracarbonsäure-Di<strong>an</strong>hydrid<br />
Rasteraugerelektronenmikroskop<br />
Sekundärelektronenmikroskop<br />
SpektroMikroskop mit Aberrationskorrektur für viele Relev<strong>an</strong>te<br />
Techniken<br />
Beugung niederenergetischer Elektronen mit Analyse der<br />
Reflexprofile<br />
Spektroskopisches LEEM<br />
Rasterphotoelektronenmikroskop<br />
Rastertunnelmikroskop<br />
Tr<strong>an</strong>smissionsrasterröntgenmikroskop<br />
Tr<strong>an</strong>smissionselektronenmikroskop<br />
Total Electron Yield<br />
Thermisch programmierte Desorption<br />
UV-Photoelektronenspektroskopie<br />
Ultrahochvakuum<br />
Röntgen-Photoelektronenemissionsmikroskop<br />
Röntgen-Photoelektronenspektroskopie<br />
Röntgendiffraktometrie<br />
Absorptionsspektroskopie in stehenden Röntgenfeldern
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