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Spektromikroskopische Untersuchungen an ... - OPUS Würzburg

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16 2 Physikalische Grundlagen<br />

LEED-System<br />

Reziproker Raum<br />

(30)<br />

Leuchtschirm<br />

k´10<br />

k´20<br />

k´30<br />

k´20<br />

k´00<br />

k´10<br />

k´30<br />

k<br />

(20)<br />

(10)<br />

(00)<br />

( 10)<br />

( 20)<br />

( 30)<br />

Elektronenk<strong>an</strong>one<br />

Probe<br />

Fenster<br />

Ewald-Kugel<br />

Abbildung 2.8: Schematische Darstellung eines LEED-Experiments (aus [20]).<br />

lagen und zudem ist der Querschnitt für elastische Rückstreuung groß, so dass die<br />

Methode sehr oberflächenempfindlich ist.<br />

Für Maxima bei der zweidimensionalen Streuung <strong>an</strong> der Oberfläche gilt<br />

k p − k ′ p = g, (2.13)<br />

worin k p und k ′ p die zur Oberfläche parallelen Komponenten des einfallenden<br />

beziehungsweise gestreuten Wellenvektors sind und g ein reziproker Gittervektor<br />

ist. Unter Verwendung der reziproken Basisvektoren a ∗ i<br />

k<strong>an</strong>n m<strong>an</strong> g darstellen als<br />

g = n 1 · a ∗ 1 + n 2 · a ∗ 2 (2.14)<br />

und es bietet sich <strong>an</strong>, die entsprechenden Punkte im Beugungsbild entsprechend<br />

mit reziproken Gittervektoren zu kennzeichnen:<br />

g = (n 1 , n 2 ). (2.15)<br />

Da in diesem zweidimensionalen Modell senkrecht zur Oberfläche keine Periodizität<br />

vorliegt, ergeben sich im reziproken Raum St<strong>an</strong>gen senkrecht zur Oberfläche. In

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