Spektromikroskopische Untersuchungen an ... - OPUS Würzburg
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16 2 Physikalische Grundlagen<br />
LEED-System<br />
Reziproker Raum<br />
(30)<br />
Leuchtschirm<br />
k´10<br />
k´20<br />
k´30<br />
k´20<br />
k´00<br />
k´10<br />
k´30<br />
k<br />
(20)<br />
(10)<br />
(00)<br />
( 10)<br />
( 20)<br />
( 30)<br />
Elektronenk<strong>an</strong>one<br />
Probe<br />
Fenster<br />
Ewald-Kugel<br />
Abbildung 2.8: Schematische Darstellung eines LEED-Experiments (aus [20]).<br />
lagen und zudem ist der Querschnitt für elastische Rückstreuung groß, so dass die<br />
Methode sehr oberflächenempfindlich ist.<br />
Für Maxima bei der zweidimensionalen Streuung <strong>an</strong> der Oberfläche gilt<br />
k p − k ′ p = g, (2.13)<br />
worin k p und k ′ p die zur Oberfläche parallelen Komponenten des einfallenden<br />
beziehungsweise gestreuten Wellenvektors sind und g ein reziproker Gittervektor<br />
ist. Unter Verwendung der reziproken Basisvektoren a ∗ i<br />
k<strong>an</strong>n m<strong>an</strong> g darstellen als<br />
g = n 1 · a ∗ 1 + n 2 · a ∗ 2 (2.14)<br />
und es bietet sich <strong>an</strong>, die entsprechenden Punkte im Beugungsbild entsprechend<br />
mit reziproken Gittervektoren zu kennzeichnen:<br />
g = (n 1 , n 2 ). (2.15)<br />
Da in diesem zweidimensionalen Modell senkrecht zur Oberfläche keine Periodizität<br />
vorliegt, ergeben sich im reziproken Raum St<strong>an</strong>gen senkrecht zur Oberfläche. In