Spektromikroskopische Untersuchungen an ... - OPUS Würzburg
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142 C Literaturverzeichnis<br />
[31] W. W<strong>an</strong>, J. Feng, H. A. Padmore und D. S. Robin: Simulation of a mirror<br />
corrector for PEEM3. Nucl. Instr. Meth A, 519 (1-2), 222 (2004). 24<br />
[32] L. H. Veneklasen: The Continuing Development of Low-Energy Electron-<br />
Microscopy for Characterizing Surfaces. Rev. Sci. Instrum., 63 (12), 5513<br />
(1992). 25<br />
[33] E. Bauer: Low-Energy-Electron Microscopy. Rep. Prog. Phys., 57 (9), 895<br />
(1994). 25<br />
[34] W. F. Chung und M. S. Altm<strong>an</strong>: Step contrast in low energy electron microscopy.<br />
Ultramicroscopy, 74 (4), 237 (1998). 25<br />
[35] E. Bauer: LEEM basics. Surf. Rev. Lett., 5 (6), 1275 (1998). 25<br />
[36] W. Telieps, M. Mundschau und E. Bauer: Dark Field Imaging with LEEM.<br />
Optik, 77 (2), 93 (1987). 26<br />
[37] R. M. Tromp, M. M<strong>an</strong>kos, M. C. Reuter, A. W. Ellis und M. Copel: A new Low<br />
Energy Electron Microscope. Surf. Rev. Lett., 5 (6), 1189 (1998). 26<br />
[38] H. Rose und D. Preikszas: Outline of a Versatile Corrected Leem. Optik, 92 (1),<br />
31 (1992). 26<br />
[39] D. Preikszas: Korrektur des Farb- und Öffnungsfehlers eines Niedersp<strong>an</strong>nungs-<br />
Elektronenmikroskops mit Hilfe eines Elektronenspiegels. Dissertation, TU Darmstadt<br />
(1995). 26, 28<br />
[40] R. Fink, M. R. Weiss, E. Umbach, D. Preikszas, H. Rose, R. Spehr, P. Hartel,<br />
W. Engel, R. Degenhardt, R. Wichtendahl, H. Kuhlenbeck, W. Erlebach, K. Ihm<strong>an</strong>n,<br />
R. Schlögl, H. J. Freund, A. M. Bradshaw, G. Lilienkamp, T. Schmidt,<br />
E. Bauer und G. Benner: SMART: A pl<strong>an</strong>ned ultrahigh-resolution spectromicroscope<br />
for BESSY II. J. Electr. Spectr., 84 (1-3), 231 (1997). 26<br />
[41] T. Schmidt, U. Groh, R. Fink und E. Umbach: XPEEM with energy-filtering:<br />
Adv<strong>an</strong>tages <strong>an</strong>d first results from the SMART project. Surf. Rev. Lett., 9 (1), 223<br />
(2002). 26, 28, 29<br />
[42] P. Hartel: Aufbau und Erprobung eines Spiegelkorrektors für Niedersp<strong>an</strong>nungs-<br />
Elektronenmikroskope. Dissertation, TU Darmstadt (2001). 28