Spektromikroskopische Untersuchungen an ... - OPUS Würzburg

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Ausblick
Die in dieser Arbeit mit dem noch nicht voll funktionsfähigen und optimal justierten
SMART durchgeführten Messungen lassen bereits erahnen, welche weiteren
Möglichkeiten in naher Zukunft dem Experimentator zur Verfügung stehen werden.
Für alle Systeme stehen noch weitergehende Elektronenstrahl-Experimente aus.
Sowohl LEEM- als auch flächenselektive LEED-Messungen können weitere Einblicke
in das Wachstum und die entstehenden Strukturen geben. Auch erscheinen
LEED-I-V-Messungen an den organischen Filmen als vielversprechend, wie erste
Untersuchungen mit einem „konventionellen“ LEED-I-V-Gerät gezeigt haben [73].
Einen tieferen Einblick in die Verteilung einzelner Domänen auf der Oberfläche
wird sicherlich die Dunkelfeldmikroskopie ergeben. Besonders interessant könnte
hierbei die direkte Beobachtung des Wachstums einzelner ausgewählter Domänen
und Strukturen sein.
Die zu erwartende Auflösung deutlich unter 10 nm wird gerade auch den organischen
Filmen auf der 22 × 3 -rekonstruierten Au(111)-Oberfläche zugute kommen.
Die sich abwechselnden fcc- und hcp-Domänen im Abstand von etwa 6,2 nm
werden im LEEM-Modus, wenn überhaupt, nur gerade eben so aufgelöst werden
können, die zusätzliche Überstruktur mit der Periodenlänge von etwa 25 nm wird
aber sehr wohl beobachtet werden können.
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