PCT/2000/51 - World Intellectual Property Organization

51/2000
21 Dec/déc 2000 PCT Gazette - Section I - Gazette du PCT 19197
(81) AE AG AL AM AT AT (Utility model / modèle
d’utilité) AUAZBABBBGBRBYCA
CH CN CR CU CZ CZ (Utility model / modèle
d’utilité) DE DE (Utility model / modèle
d’utilité) DK DK (Utility model / modèle
d’utilité) DM DZ EE EE (Utility model / modèle
d’utilité) ES FI FI (Utility model / modèle
d’utilité) GBGDGEGHGMHRHUIDIL
IN IS JP KE KG KP KR KR (Utility model
/ modèle d’utilité) KZLCLKLRLSLTLU
LV MA MD MG MK MN MW MX MZ NO
NZ PL PT RO RU SD SE SG SI SK SK (Utility
model / modèle d’utilité)SLTJTMTRTT
TZ UA UG US UZ VN YU ZA ZW.
(84) AP (GH GM KE LS MW MZ SD SL SZ TZ
UG ZW); EA (AM AZ BY KG KZ MD RU
TJ TM); EP (AT BE CH CY DE DK ES FI FR
GB GR IE IT LU MC NL PT SE); OA (BF BJ
CF CG CI CM GA GN GW ML MR NE SN
TD TG).
Published / Publiée :(c)
(51) 7 G01N 21/90, 21/88
(11) WO 00/77499 (13) A1
(21) PCT/NL00/00410
(22) 14 Jun/juin 2000 (14.06.2000)
(25) nl (26) en
(30) 1012323 14 Jun/juin 1999 NL
(14.06.1999)
(43) 21 Dec/déc 2000 (21.12.2000)
(54) METHOD FOR INSPECTING OF A
TRANSPARENT PACKAGING AND
APPARATUS AND SYSTEM TO BE
USED THEREWITH
PROCEDE DE CONTROLE D’UN EM-
BALLAGE TRANSPARENT ET DISPO-
SITIF ET SYSTEME D’UTILISATION
ASSOCIES
(71) EAGLE VISION SYSTEMS B.V.
[NL/NL]; Energiestraat 16b, NL-1411 AT
Naarden (NL).
(for all designated States except / pour tous
les États désignés sauf US)
(72, 75) JOORDENS, Servaes [NL/NL]; Oudeschans
10n, NL-1011 KZ Amsterdam (NL).
AKKERMAN, Jensen, Peter [NL/NL];
Nieuwe Kerklaan 6, NL-1271 BV Huizen
(NL). VAN DE STADT, Arend [NL/NL];
Naarderstraat 306, NL-1272 NT Huizen
(NL).
(74) LAND, Addick, Adrianus, Gosling; Arnold
& Siedsma, Sweelinckplein 1, NL-2517 GK
The Hague (NL).
(81) AE AL AM AT AU AZ BA BB BG BR BY
CA CH CN CR CU CZ DE DK DM EE ES FI
GB GD GE GH GM HR HU ID IL IN IS JP
KE KG KP KR KZ LC LK LR LS LT LU LV
MA MD MG MK MN MW MX NO NZ PL
PT RO RU SD SE SG SI SK SL TJ TM TR
TT TZ UA UG US UZ VN YU ZA ZW.
(84) AP (GH GM KE LS MW MZ SD SL SZ TZ
UG ZW); EA (AM AZ BY KG KZ MD RU
TJ TM); EP (AT BE CH CY DE DK ES FI FR
GB GR IE IT LU MC NL PT SE); OA (BF BJ
CF CG CI CM GA GN GW ML MR NE SN
TD TG).
Published / Publiée :(c)
(51) 7 G01N 21/94
(11) WO 00/77500 (13) A1
(21) PCT/US00/16020
(22) 9 Jun/juin 2000 (09.06.2000)
(25) en (26) en
(30) 09/330,249 10 Jun/juin 1999 US
(10.06.1999)
(43) 21 Dec/déc 2000 (21.12.2000)
(54) OPTICAL INSPECTION METHOD
AND APPARATUS UTILIZING A VARI-
ABLE ANGLE DESIGN
PROCEDE ET DISPOSITIF D’INS-
PECTION OPTIQUE UTILISANT UN
ANGLE VARIABLE
(71) APPLIED MATERIALS, INC. [US/US];
P.O. Box 450 A, Santa Clara, CA 95052 (US).
(72) GOLBERG, Boris; 93 Hazmaut Street,
Ashod (IL). KOMEM, Amir; 3 Cremieuxe
Street, Tel Aviv (IL). NAFTALI, Ron; 21
Montefiori Street, Kiriat-Ono (IL). ALM-
OGY, Gilad; Poalei Harakevet Street 8,
Givatayim (IL).
(74) BERNADICOU, Michael, A. et al. / etc.;
Blakely, Sokoloff, Taylor & Zafman LLP,
17th floor, 12400 Wilshire Boulevard, Los
Angeles, CA 90025 (US).
(81) JP KR.
(84) EP (AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR
IE IT LU MC NL PT SE).
(51) 7 G01N 22/04, 22/00
(11) WO 00/77501 (13) A1
(21) PCT/IN99/00024
(22) 11 Jun/juin 1999 (11.06.1999)
(25) en (26) en
(43) 21 Dec/déc 2000 (21.12.2000)
(54) AN APPARATUS AND METHOD FOR
MEASURING AND MONITORING
COMPLEX PERMITTIVITY OF MATE-
RIALS
APPAREIL ET PROCEDE PERMET-
TANT DE MESURER ET DE SUR-
VEILLER LA PERMITTIVITE COM-
PLEXE DE MATERIAUX
(71, 72) JOSHI, Kalpana [IN/IN]; 5 Ballygung
Circular Road, Calcutta 700 019 (IN).
(74) CHAKRABARTI, Mihir, Kumar; L.S.
Davar & Co., Monalisa, Flats 1B & 1C, 17
Camac Street, Calcutta 700 017 (IN).
.
(84) EP (AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR
IE IT LU MC NL PT SE).
(51) 7 G01N 23/04, 23/08
(11) WO 00/77502
(21) PCT/CH00/00293
(13) A2
(22) 25 May/mai 2000 (25.05.2000)
(25) de (26) de
(30) 199 26 388.4 10 Jun/juin 1999
(10.06.1999)
DE
(43) 21 Dec/déc 2000 (21.12.2000)
(54) GAMMA RAY DENSITY PROFILE
SENSOR WITH PASSIVELY COOLED
PIN PHOTODIODES
DETECTEUR DE PROFIL DE DENSITE
A RAYONS GAMMA COMPORTANT
DES PHOTODIODES PIN A REFROI-
DISSEMENT PASSIF
(71) ABB RESEARCH LTD. [CH/CH];
CH-8050 Zürich (CH).
(for all designated States except / pour tous
les États désignés sauf US)
(72, 75) BYATT, Anthony [GB/CH]; Liebefelsweg
31, CH-5313 Klingnau (CH).
MATTER, Daniel [CH/CH]; Rebmoosweg
29A, CH-5200 Brugg (CH). KLEINER,
Thomas [CH/CH]; Austrasse 13, CH-5415
Rieden-Nussbaumen (CH). PRÊTRE,
Philippe [CH/CH]; Sommerhaldenstrasse 14,
CH-5405 Baden-Dättwil (CH). RUEEGG,
Walter [CH/CH]; Sonnmattstrasse 7,
CH-5304 Endingen (CH).
(74) ABB BUSINESS SERVICES LTD.; Intellectual
Property (SLE-I), Haselstrasse 16/699,
CH-5401 Baden (CH).
(81) AU BR GB NO US.
(84) EP (AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR
IE IT LU MC NL PT SE).
(51) 7 G01N 23/04
(11) WO 00/77503 (13) A1
(21) PCT/KR99/00305
(22) 15 Jun/juin 1999 (15.06.1999)
(25) en (26) en
(43) 21 Dec/déc 2000 (21.12.2000)
(54) APPARATUS AND METHOD FOR DIG-
ITAL X-RAY IMAGING
APPAREIL ET PROCEDE D’IMAGERIE
NUMERIQUE AUX RAYONS X
(71) STAR V-RAY CO., LTD. [KR/KR]; 1503-3,
Dadae-dong, Saha-gu, Pusan 604-050 (KR).
(for all designated States except / pour tous
les États désignés sauf US)
(72, 75) KANG, Joong-Gil [KR/KR]; 18-801,
Lucky Apt., 707, Onchon 2-dong, Dongrae-gu,
Pusan 607-753 (KR). KIM,
Jung-soo [KR/KR]; 103-2, Eundong, Yusong-gu,
Taejon 305-333 (KR).
(74) KIM, Samsoo; 3rd floor, Dukwon Bldg.,
637-19, Yoksam-dong, Kangnam-gu, Seoul
135-080 (KR).
(81) AE AL AM AT AU AZ BA BB BG BR BY
CA CH CN CU CZ DE DK EE ES FI GB GD
GE GH GM HR HU ID IL IN IS JP KE KG
KP KR KZ LC LK LR LS LT LU LV MD MG
MK MN MW MX NO NZ PL PT RO RU SD
SE SG SI SK SL TJ TM TR TT UA UG US
UZ VN YU ZA ZW.
(84) AP (GH GM KE LS MW SD SL SZ UG ZW);
EA (AM AZ BY KG KZ MD RU TJ TM); EP
(ATBECHCYDEDKESFIFRGBGRIE
IT LU MC NL PT SE); OA (BF BJ CF CG CI
CM GA GN GW ML MR NE SN TD TG).
(51) 7 G01N 23/225, 23/227, H01J 49/48
(11) WO 00/77504 (13) A1
(21) PCT/GB99/03556
(22) 28 Oct/oct 1999 (28.10.1999)
(25) en (26) en
(30) 9914082.4 16 Jun/juin 1999
(16.06.1999)
(30) 9916654.8 15 Jul/juil 1999
(15.07.1999)
GB
GB