HiTec Zang Hauptkatalog 2010/2011 - HiTec Zang GmbH
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Konfigurationsbeispiele<br />
Prozessanalytik und Sensoren<br />
Gerätekonfiguration Eigenschaften<br />
2D ORM (optische Rückreflexion) passive<br />
Signalerfassung >5 μm ausschließlich basierend auf<br />
der Laufzeit der Teilchen im Fokus für konstante<br />
Reynoldszahlen.<br />
2D ORM aktive Signalerfassung >2μm basierend auf<br />
der patentierten Sensortechnologie (s.o.) zzgl.<br />
laufzeitnivellierender Signalerfassung.<br />
3D ORM aktive Signalerfassung >2μm mit<br />
Tiefenfokus basierend auf 3mW Lasersystem<br />
geregelt<br />
3D ORM aktive Signalerfassung >0,8μm mit<br />
Tiefenfokus + Selektive Abtastung basierend auf<br />
5mW Lasersystem geregelt und zweifach<br />
abgeschirmt<br />
3D ORM IPAS aktive Signalerfassung >1μm mit<br />
Tiefenfokus + Selektive Abtastung + offenes<br />
Signalsystem basierend auf 10mW Lasersystem<br />
einstellbar zwischen 1 und 10mW, geregelt mit<br />
mehrfacher Abschirmung.<br />
APAS aktive Multi Capture Signalerfassung >500nm<br />
mit 3D ORM Tiefenfokus + Selektive Abtastung<br />
(SMF)+ offenes Signalsystem basierend auf 25mW<br />
Lasersystem einstellbar zwischen 1 und 25mW,<br />
geregelt mit mehrfacher Abschirmung.<br />
„Multiscattering“ Signale und Trübung, werden von<br />
der patentierten Sensortechnologie NICHT<br />
verarbeitet. Zählung aller erfassten Partikel und<br />
deren Größe. Zugeschnitten auf den rauhen,<br />
industriellen Einsatz, keine bewegten Teile im<br />
Sensor.<br />
Erweiterung durch dynamische Abtastung, somit<br />
erhöhte Zählrate.<br />
Erweiterung durch Tiefenabtastung und bessere<br />
Auflösung.<br />
Erweiterung durch gesteuerte dynamische<br />
Tiefenabtastung und gesteigerte Auflösung.<br />
Teilweise offenes System für R & D Aufgaben<br />
basierend auf dem APAS System. Eingangs<br />
Rohsignale vom Sensor werden abgegriffen und<br />
stehen den Forschern bei Bedarf zu Verfügung<br />
Advanced Particle Analysing System. Vollkommen<br />
offenes System für R & D Aufgaben. Eingangs-<br />
Rohsignale vom Sensor, sowie die Signale der<br />
einzelnen Verarbeitungsstufen, werden abgegriffen<br />
und stehen den Forschern bei Bedarf zu Verfügung.<br />
Bestellcode Beschreibung<br />
IS-PARTICLEYE-S- l ParticleEye Partikel Messsystem statisch, bestehend aus Sonde, Elektronik und Softwaremodul<br />
IS-PARTICLEYE- 2D-l ParticleEye Partikel Messsystem, dynamisch 2D, Sonde, Elektronik und Softwaremodul<br />
IS-PARTICLEYE- 3D-l-t ParticleEye Partikel Messsystem, dynamisch 3D, Sonde, Elektronik und Softwaremodul<br />
IS-PARTICLEYE-AA6 6 Analogausgänge 4...20mA für ParticleEye Partikel Messsystem<br />
IS-PARTICLEYE-EEX Ex-Ausrüstung für ParticleEye Partikel Messsystem<br />
IS-PARTICLEYE- WV Wartungsvertrag für ParticleEye Partikel Messsystem<br />
l: Sondenlänge:<br />
t: lt. Tabelle, nur 3D-Sonde betreffend.<br />
Typ Messbereich<br />
in µm<br />
Max. Konzentration<br />
in %<br />
125 0,5 – 125 80<br />
250 1 – 250 60<br />
500 1 - 500 50<br />
1000 2 - 1000 40<br />
2000 5 - 2000 30<br />
3000 30 - 3000 25<br />
4000 20 - 4000 20<br />
Optionen:<br />
Sondermaterialien<br />
Andere Sondenformen und Durchmesser<br />
EEX-Ausführung<br />
30 Jahre Excellence in Lab Scale Technology · Über 1.000 Produkte rund um den Laborreaktor
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