Ebene Keramiksubstrate und neue Montagetechnologien zum ...

Kapitel 3
Um den Einfluss des Klebstoffschrumpfs während des Aushärtens zu überprüfen,
wurde analog zur Justierung der Laserdiode das Profil des kollimierten Strahls nach
dem Fügen erneut aufgenommen (Tabelle 20).
Tabelle 20: Laserdioden-Dejustierung während des Fügen mittels Kleben
Vor dem Aushärten des Klebstoffs
Nach dem Aushärten des Klebstoffs
Durchmesser ⊥
Elliptizität
1 : tan(θ ⊥ )/tan(θ // )
Durchmesser ⊥
Elliptizität
1 : tan(θ ⊥ )/tan(θ // )
Soll 2400 µm 1 : 4.1 2400 µm 1 : 4.1
Substrat 1 2210 µm 1 : 5.0 2280 µm 1 : 4.8
Substrat 2 3389 µm 1 : 2.0 3451 µm 1 : 2.2
Substrat 3 2556 µm 1 : 3.1 2613 µm 1 : 3.8
Substrat 4 2977 µm 1 : 2.3 3076 µm 1 : 2.3
Substrat 5 3145 µm 1 : 2.2 3156 µm 1 : 2.3
Die Änderung von Strahldurchmesser und Elliptizität entspricht nach der Toleranzrechnung
des Optikdesigns einer axialen Dejustierung der Laserdiode von < 10 µm
und liegt damit im Bereich der Erwartungen. Im Vergleich dazu zeigt Tabelle 21, dass
bei den ebenfalls justierten Zylinderlinsenarrays ein Einfluss des Klebstoffschrumpfs
während des Aushärtens kaum festzustellen ist.
Tabelle 21: Zylinderlinsenarray-Dejustierung während des Fügen mittels Kleben
Vor dem Aushärten des Klebstoffs
Nach dem Aushärten des Klebstoffs
Durchmesser ⊥
Elliptizität
1 : tan(θ ⊥ )/tan(θ // )
Durchmesser ⊥
Elliptizität
1 : tan(θ ⊥ )/tan(θ // )
Soll 800 µm