4. Halbleiterdetektoren - HEPHY
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<strong>4.</strong>4 Ortsauflösung von Si-MicrostripsDiffusion – 5Ortsauflösung eines Si-Microstrip-Detektors mit 25 µm Streifenabstand. Aufgetragen istder Abstand zw. der erwarteten und der gemessenen Position der Spur eines denDetektor durchquerenden Teilchens. — Bild links: Teilchenspur nahe bei einem Streifen➔ σ x = 3.5 µm. — Bild rechts: Teilchenspur zw. zwei Streifen ➔ σ x = 2.2 µm.σ x = 3.5 µmσ x = 2.2 µmQuelle: A. Peisert, Silicon Microstrip Detectors,DELPHI 92-143 MVX 2, CERN, 1992M. Krammer: Detektoren, SS 09 <strong>Halbleiterdetektoren</strong> 108
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