08.05.2013 Aufrufe

Projektbereich D Lugscheider, Erich 383 Projektbereich D ... - SFB 289

Projektbereich D Lugscheider, Erich 383 Projektbereich D ... - SFB 289

Projektbereich D Lugscheider, Erich 383 Projektbereich D ... - SFB 289

MEHR ANZEIGEN
WENIGER ANZEIGEN

Sie wollen auch ein ePaper? Erhöhen Sie die Reichweite Ihrer Titel.

YUMPU macht aus Druck-PDFs automatisch weboptimierte ePaper, die Google liebt.

<strong>Projektbereich</strong> D<br />

<strong>Lugscheider</strong>, <strong>Erich</strong><br />

408<br />

Bild D-13: Rockwelleindruck bei 150 N Last Haftklasse 1<br />

Nachfolgend wurden die Materialeigenschaften E-Modul und Härte mit einem<br />

Nanoindenter bestimmt. Der Nanoindenter ermöglicht es durch eine geringe Eindringtiefe<br />

des Berkovich-Indenters die Schichteigenschaften ohne Substrateinflüsse zu messen. Die<br />

Messungen ergaben, dass der Sauerstofffluss die Schichtcharakteristik deutlich beeinflusst.<br />

Mit zunehmendem Sauerstoffanteil konnte erst eine Härtezunahme verzeichnet werden bis<br />

zu einem Härtemaximum. Die Maximalwerte der Härte konnten bei Schichten nachgewiesen<br />

werden, die mit einem Sauerstofffluss von 4,8-6,2sccm abgeschieden worden<br />

waren. Bei höheren Sauerstoffflüssen nahm die Härte wieder ab. Der Temperatureinfluss<br />

auf die Schichteigenschaften war ebenfalls mit dem Nanoindenter nachweisbar. Mit<br />

steigender Substrattemperatur stieg auch die Härte an. Bei ca. 400°C konnte ein Anstieg<br />

der Härte beobachtet werden. Dieser Anstieg kann auf eine Änderung des Gefüges zurückgeführt<br />

werden. Durch die Erhöhung der Temperatur wird die Ausbildung kristalliner<br />

Phasen wahrscheinlicher. Abschließend wurde noch der Druckeinfluss auf die Härte<br />

untersucht. Es zeigte sich, dass mit zunehmenden Druck die Härte abnimmt. Einen<br />

Gegenüberstellung von Beschichtungsparametern und erreichten Härtewerten ist<br />

Tabelle D-3 zu entnehmen.<br />

Des Weiteren wurden die abgeschiedenen Schichten mittels Rasterelektronenmikroskopie<br />

untersucht. Dabei wurden Aufnahmen von Bruchflächen der Proben angefertigt<br />

(Bild D-14a,b). Anhand der Aufnahmen kann der Grad der Kristallinität der untersuchten<br />

Schichten bestimmt werden. In Bild D-14a ist der Unterschied zwischen kristallinem<br />

Wolfram-Interlayer und amorphem Al2O3-Toplayer gut zu erkennen. Durch Änderung des<br />

Betriebspunktes konnte die kristalline Abscheidung von Al2O3 ermöglicht werden<br />

(Bild D-14b). Mit rasterelektronenmikroskopischen Untersuchungen kann eine erste<br />

Überprüfung der vorliegenden Schichtstrukturen durchgeführt werden, da hierbei visuell<br />

zwischen amorphem und kristallinem Schichtaufbau unterschieden werden kann. Einen<br />

endgültigen Beweis ob ein amorpher oder kristalliner Schichtaufbau vorliegt, kann nur mit<br />

Hilfe der Röntgendiffraktometrie geführt werden.

Hurra! Ihre Datei wurde hochgeladen und ist bereit für die Veröffentlichung.

Erfolgreich gespeichert!

Leider ist etwas schief gelaufen!