Wersja pełna [11,39 MB] - Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i ...

28. Metody pomiarowe parametrów impedancyjnych R, L, C, |Z| X 1
29. Wektorowe mierniki składowych impedancji i admitancji X 1
30. Klasyfikacja i charakterystyka systemów pomiarowych o strukturach:
gwiaździstych, magistralowych i pętlowych
X 0,67
31. Magistralowe systemy pomiarowe z interfejsem w standardzie GPIB:
struktura, linie sygnałowe, zasada transmisji z obustronnym potwierdzeniem
(handshake 3-przewodowy)
X 1
32. Modułowe systemy w standardzie VXI X 1
33. Standardy interfejsów szeregowych rodziny RS, inne standardy dla
systemów rozproszonych (field buses)
X 1
34. Przyrządy wirtualne i narzędzia ich projektowania – LabView X 0,33
35. Zagadnienia planowania eksperymentu X 1
36. Obróbka i wizualizacja danych pomiarowych X 1
Razem 30
Karta zajęć - laboratorium
poziom liczba
Lp. Zagadnienie
wiedzy umiej.
godzin
A B C D E
1. Wprowadzenie: program, charakterystyka laboratorium (szeroki front, 1
student przy 1 stanowisku, komputerowe monitorowanie aktywności studenta),
tryb wykonywania ćwiczeń i sprawozdań
X 1
2. Zapoznanie z podstawową aparaturą X 1
3. Badanie i wzorcowanie podstawowych mierników elektrycznych analogowych
i cyfrowych (typu Metex) współpracujących z komputerem
X 2
4. Pomiary podstawowych wielkości elektrycznych napięcia, prądu, rezystancji,
mocy i energii elektrycznej (elektronicznym przetwornikiem P/f)
X 2
5. Badania oscyloskopu analogowego i cyfrowego (Metrix 8040) X 2
6. Oscyloskopowy pomiar podstawowych wielkości elektrycznych: napięcia,
parametrów impulsów, charakterystyk I/U elementów elektronicznych.
Obserwacja i analiza przebiegów w układach cyfrowych
X 2
7. Badania właściwości cyfrowego miernika czasu, częstotliwości i przesunięcia
fazowego (HP 53131A)
X 2
8. Pomiary czasu, częstotliwości, przesunięcia fazowego metodami cyfrowymi
i oscyloskopowymi
X 2
9. Badania właściwości i trybów pracy systemu pomiarowego: multimetr
laboratoryjny HP 34401A, generator programowany HP 33120A, multimetr
serwisowy Metex ME-21
X 2
10. Badania w/w systemem przetworników A/C z podwójnym całkowaniem oraz z
przetwarzaniem U/f (praca studenta jest monitorowana i oceniana
komputerowo)
X 2
11. Badania i wzorowanie przetworników AC/DC wartości średniej i szczytowej
napięć zmiennych mcz. i wcz.
X 2
12. Pomiary wartości skutecznej przebiegów o różnych kształtach metodami True
RMS (Metex M-3640D) i miernikami skalowanymi sinusoidą (Metex ME21)
oraz metodą próbkowania
X 2
13. Pomiary dużych i bardzo małych rezystancji mostkami Wheatstone’a
i Thomsona oraz wielozaciskowym multimetrem cyfrowym (HP 34401A)
X 2
14. Pomiary parametrów impedancyjnych elementów RLC (E317, Metex
M4650CR)
X 2
15. Sprawdziany przygotowania do ćwiczeń 1
16. Odrabianie zaległych lub poprawianie ćwiczeń laboratoryjnych 2
17. Zaliczenie laboratorium 1
Razem 30
133