25.08.2013 Views

Wersja pełna [11,39 MB] - Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i ...

Wersja pełna [11,39 MB] - Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i ...

Wersja pełna [11,39 MB] - Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i ...

SHOW MORE
SHOW LESS

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

KARTA PRZEDMIOTU<br />

Nazwa przedmiotu Optyczne techniki pomiarowe<br />

Skrót nazwy OTP<br />

Kierunek:<br />

Elektronika i telekomunikacja Automatyka i robotyka Informatyka<br />

X<br />

Osoba odpowiedzialna za treść przedmiotu:<br />

Imię: Paweł<br />

Nazwisko: Wierzba<br />

e-mail: pwierzba@eti.pg.gda.pl<br />

Lp. Zagadnienie<br />

Karta zajęć - wykład<br />

poziom<br />

wiedzy umiej.<br />

liczba<br />

godzin<br />

A B C D E<br />

1. Spójność czasowa i przestrzenna. X 1<br />

2. Funkcja autokorelacji X 1<br />

3. Interferencja wiązek częściowo spójnych X 0,67<br />

4. Interferencja wiązek o różnych stanach polaryzacji X 1<br />

5. Funkcja przenoszenia interferometrów dwuwiązkowych X 0,33<br />

6. Detekcja w dziedzinie czasu i częstotliwości X 1<br />

7. Detekcja heterodynowa X 0,67<br />

8. Praca interferometru z syntetyczną długością fali X 0,33<br />

9. Interferometry wykorzystujące elementy dwójłomne X 1<br />

10. Mikrointerferometry polaryzacyjne X 1<br />

<strong>11</strong>. Interferometria Moiré. X 1<br />

12. Interferometryczny pomiar współczynnika załamania X 1<br />

13. Monitorowanie przepływu gazów i cieczy metodami interferometr. X 1<br />

14. Charakteryzacja układów optycznych metodami interferometrycznymi X 1<br />

15. Interferometryczny pomiar: odległości X 1<br />

16. drgań X 1<br />

17. długości fali X 1<br />

18. chropowatości i profilu powierchni X 1<br />

19. Polarymetria i elipsometria X 1<br />

20. Określanie rozkładu naprężeń metodami polarymetrycznymi X 1<br />

21. Pomiar grubości cienkich warstw metodami elipsometrycznymi<br />

22. Zastosowanie pomiaru czasu przelotu w pomiarach odległości i profilu<br />

X 1<br />

powierzchni<br />

23. Układy optoelektroniczne do pomiaru czasu przelotu X 1<br />

24. Optyczna spektroskopia czasowa. X 1<br />

25. Interferometria niskokoherentna X 1<br />

26. Reflektometria niskokoherencyjna: w dziedzinie czasu X 1<br />

27. w dziedzinie częstotliwości X 1<br />

28. Tomografia optyczna X 1<br />

29. Implementacja układów optycznej spektroskopii czasowej<br />

30. Pomiar parametrów optycznych materiałów silnie rozpraszających<br />

X 1<br />

światło<br />

31. Bezkontaktowe pomiary temperatury metodami jednopasmowymi i<br />

X<br />

1<br />

ilorazowymi<br />

32. Wielopasmowe metody pomiaru emisyjności i temperatury X 1<br />

Razem 30<br />

X<br />

X<br />

1<br />

1<br />

532

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!