Wersja pełna [11,39 MB] - Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i ...

9. Pomiary własności materiałów w zakresie mikrofal. X 1
10. Analiza widmowa w zakresie mikrofal:
X
odbiorniki panoramiczne,
0,33
analizatory widma,
0,67
podstawowe parametry,
1
techniki pomiaru szumów fazowych i amplitudowych.
1
11. Techniki poszerzania zakresu pomiarowego mikrofalowych
analizatorów obwodów:
X
skalarnych,
1
wektorowych.
1
12. Techniki CAM w miernictwie mikrofalowym:
X
osprzęt,
0.67
oprogramowanie.
0.33
13. Zaliczenie (kolokwium). 2
Razem 30
Karta zajęć - laboratorium
Lp.
Zagadnienie
poziom
wiedzy umiej.
A B C D E
1. Układ reflektometru na bazie jednego sprzęgacza kierunkowego. X 3
2. Układ reflektometru na bazie trzech sprzęgaczy kierunkowych. X 3
3. Skalarny analizator obwodów mikrofalowych. X 3
4. Kalibracja wektorowego analizatora sieci metodą SOLT oraz pomiary
parametrów [S].
X 3
5. Kalibracja wektorowego analizatora sieci metodą TLR/TLM oraz
pomiary parametrów [S].
X 3
6. Reflektometria czasowa (sprzętowa). X 3
7. Wykorzystanie wektorowych analizatorów sieci w pomiarach
X 3
czasowych.
8. Podstawowe problemy pomiaru widma sygnałów w zakresię mikrofal. X 3
9. Pomiary parametrów szumowych elementów mikrofalowych. X 3
10. Pomiary rezonatorów mikrofalowych. X 3
Razem 30
liczba
godzin
412