25.08.2013 Views

Wersja pełna [11,39 MB] - Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i ...

Wersja pełna [11,39 MB] - Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i ...

Wersja pełna [11,39 MB] - Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i ...

SHOW MORE
SHOW LESS

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

IEEE <strong>11</strong>49.1 X 1<br />

9. Testowanie układów mieszanych sygnałowo z zastosowaniem<br />

magistrali IEEE <strong>11</strong>49.4<br />

X<br />

1<br />

10. Testery wbudowane (Build-In Self-Testers) X 1<br />

<strong>11</strong>. OBIST - metoda oscylacyjna X 1<br />

12. BIST - w pełni różnicowa implementacja X 1<br />

13. Zastosowanie techniki Sigma-Delta w BISTach X 1<br />

14. Testowanie pamięci półprzewodnikowych X 1<br />

15. Słownikowe metody diagnostyczne X 1<br />

Razem 15<br />

451

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!