Wersja pełna [11,39 MB] - Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i ...

Nazwa przedmiotu Diagnostyka elektroniczna
Skrót nazwy DGE
KARTA PRZEDMIOTU
Kierunek:
Elektronika i telekomunikacja Automatyka i robotyka Informatyka
X
Osoba odpowiedzialna za treść przedmiotu:
Imię: Wojciech
Nazwisko: Toczek
e-mail: toczek@eti.pg.gda.pl
Lp. Zagadnienie
Karta zajęć - wykład
poziom
wiedzy umiej.
liczba
godzin
A B C D E
1. Wprowadzenie i zasady zaliczenia 0,33
2. Obiekty testowania: układ scalony, pakiet, system; poziomy diagnostyki
elektronicznej: detekcja, lokalizacja, identyfikacja, predykcja
3. Przykłady typowych uszkodzeń układów elektronicznych X 0,33
4. Strategie testowania układów cyfrowych, testowanie
wewnątrzobwodowe i funkcjonalne, techniki wyizolowywania układów
cyfrowych z otaczającej sieci, metody generacji testów
5. Metoda analizy sygnatur, szeregowe i równoległe rejestry z liniowym
sprzężeniem zwrotnym, typy sprzężeń, analizator sygnatur, sygnatury
złożone, weryfikator sygnatur
6. Metody generacji testów dla układów cyfrowych X 1
7. Metody zwiększania sterowalności i obserwowalności w układach
cyfrowych, struktury BILBO, brzegowa ścieżka sterująco-
obserwacyjna, cyfrowe układy BIST
8. Magistrala testowania układów, pakietów i systemów cyfrowych IEEE
1149.1 – geneza i architektura; struktura i diagram stanów sterownika
TAP
9. Lista instrukcji magistrali, struktura rejestru instrukcji i rejestrów
brzegowych
10. Strategie testowania z wykorzystaniem magistrali, weryfikacja
poprawności struktury magistrali
11. Przykłady implementacji magistrali w układach scalonych, rodzina
układów OCTALS, system ASSET, zastosowanie magistrali do
programowania pamięci typu flash i układów programowalnych na
pakiecie
12. Testowanie pamięci: typy i przyczyny błędów, modele błędów,
X
1
algorytmy testowe
X
1
13. Testowanie mikroprocesorów, technika emulacji
14. Testowanie układów programowalnych PLD, zastosowanie magistrali
X 1
do programowania układów PLD, magistrala IEEE 1532
15. Magistrala mieszana sygnałowo IEEE 1149.4: architektura magistrali,
X
1
układ interfejsu testowego TBIC, analogowy moduł brzegowy ABM
16. Tryby pracy magistrali: BYPASS, EXTEST, SAMPLE/PRELOAD,
X
1
PROBE, INTEST, CLAMP, RUNBIST
17. Metodologia testowania z wykorzystaniem magistrali -
X
1
testowanie parametryczne, połączeń, rdzenia
18. Przykłady układów scalonych wyposażonych w magistralę X 1
19. Testowanie układów scalonych CMOS metodą monitorowania prądu X 1
X
X
X
X
X
X
X
X
0,33
1
1
1
1
1
1
1
449