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Research Directory of the Brandenburg University of Applied Sciences

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Summary<br />

Within <strong>the</strong> paper it was shown that high-end cameras<br />

<strong>of</strong>fering small integration times and microscope objective<br />

adaptation expand <strong>the</strong> possibilities <strong>of</strong> use <strong>of</strong> <strong>the</strong>rmal<br />

imaging in analyzing fast <strong>the</strong>rmal processes with<br />

an increased spatial resolution for R&D work.<br />

References<br />

[1] Möllmann, K.-P.; Lutz N.; Vollmer M., Wille, Ch;<br />

“Thermography <strong>of</strong> microsystems”; InfraMation 2004<br />

Proceedings, Vol. 5, p. 183 - 195<br />

[2] Holst, G.C.; “Testing and evaluation <strong>of</strong> infrared imaging<br />

systems”, JCD Publishing Co, Maitland, USA 1993<br />

[3] Holst, G.C.; “Common sense approach to <strong>the</strong>rmal<br />

imaging”, SPIE, Bellingham, USA 2000<br />

[4] Möllmann, K.-P; Karstädt, D.; Pinno, F. and Vollmer,<br />

M.; “Thermal image quality – visualization <strong>of</strong> spatial<br />

and <strong>the</strong>rmal resolution in <strong>the</strong>rmal imaging”; InfraMation<br />

2006 Proceedings, Vol. 7, p. 79 - 92<br />

[5] http://www.leister.com/axetris/<br />

Wissenschaftliche Beiträge – Fachbereich Technik<br />

Scientific Articles – Department <strong>of</strong> Engineering<br />

[6] Dereniak, E. L.; Boreman, G. D.; “Infrared detectors<br />

and systems”; John Wiley & Sons Inc. 1996<br />

[7] Seeger, K.; “Semiconductor Physics”, Springer<br />

Series in Solid State Science, Springer-Verlag New York<br />

Berlin Heidelberg 5th ed. 1991<br />

[8] http://www.ipht-jena.de/en/<br />

[9] Madou, M.; “Fundamentals <strong>of</strong> micr<strong>of</strong>abrication”;<br />

CRC Press Boca Raton London New York Washington,<br />

D.C.,1997<br />

[10] Rowe, D. M. (Ed.); “Thermoelectrics handbook:<br />

macro to nano”; CRC Press Boca Raton London New<br />

York Washington, D.C., 2005<br />

[11] Incropera, F. P., DeWitt, D. P.; “Fundamentals <strong>of</strong><br />

heat and mass transfer”; John Wiley &Sons 4th ed.<br />

1996<br />

[12] Möllmann, K.-P; Trull, T.; Mientus, R.; “Single-<br />

Mikrobolometer als Sensoren für Infrarotstrahlung Ergebnisse<br />

eines Kooperationsprojektes zur Technologieentwicklung”;<br />

Temperatur 2009; 24./25.06.2009;<br />

Berlin; Germany; ISBN 3-9810021-9-9<br />

[13] Hudson, R. D., Hudson, J. W. (Eds.); “Infrared Detectors”;<br />

Dowden, Hutchinson, and Ross, Wiley (1975)<br />

Forschungsbericht <strong>Research</strong> Report 2007 – 2010 91

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