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Développement de modèles pour l'évaluation des performances ...

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C (fF/µm)<br />

C(fF/µm)<br />

Chapitre III: Evaluation analytique <strong>de</strong>s capacités parasites dans les structures CMOS.<br />

1.0<br />

0.9<br />

0.8<br />

0.7<br />

0.6<br />

0.5<br />

0.4<br />

0.3<br />

0.2<br />

0.1<br />

0.0<br />

Simulations numériques<br />

Modèle<br />

0.15<br />

C of<br />

C of<br />

0.10<br />

0.05<br />

0 10 20 30 40<br />

0.00<br />

a)<br />

Tsp (nm)<br />

0 20 40 60 80<br />

b)<br />

Hg (nm)<br />

Figure III-16 : variations <strong>de</strong>s capacités parasites entre la grille et le contact en fonction <strong>de</strong> l’épaisseur d’espaceur (a)<br />

<strong>pour</strong> t ox=2nm, H g=80nm et L g=40nm puis la hauteur <strong>de</strong> grille (b) <strong>pour</strong> t ox=2nm, t sp=20nm et L g=40nm tracé par<br />

simulations numériques puis avec notre modèle.<br />

0.35<br />

0.30<br />

0.25<br />

0.20<br />

Simulations numériques<br />

Modèle<br />

tel-00820068, version 1 - 3 May 2013<br />

On constate que note modèle reproduit convenablement la tendance <strong>pour</strong> les variations d’espaceur et <strong>pour</strong> une<br />

hauteur <strong>de</strong> grille importante. Cependant, quand on observe le tracé en fonction <strong>de</strong> la hauteur <strong>de</strong> grille, on<br />

remarque que le modèle reproduit bien la pente, mais qu’il y a un décalage entre les valeurs obtenues par<br />

modèle et par simulation. Les précé<strong>de</strong>ntes étu<strong>de</strong>s sur ce sujet [Wei 11] ont dû rencontrer le même problème (car<br />

ils utilisent les mêmes expressions), mais les différentes publications ne montrent pas <strong>de</strong> graphes <strong>de</strong> variation <strong>de</strong><br />

la capacité grille-contact en fonction <strong>de</strong> la hauteur <strong>de</strong> grille. En observant <strong>de</strong> plus près les surfaces iso-potentielles<br />

dans cette structure (Figure III-15), on remarque que ces <strong>de</strong>rnières ne sont pas parallèles au contact du haut <strong>de</strong> la<br />

grille à l’oxy<strong>de</strong> <strong>de</strong> grille. En effet, les surfaces iso-potentielles <strong>de</strong>viennent curvilignes lorsqu’on est suffisamment<br />

proche <strong>de</strong> l’oxy<strong>de</strong> <strong>de</strong> grille, et, dans ce cas, c’est la capacité <strong>de</strong> bords externes C of (0) qui domine. On estime la<br />

distance entre l’oxy<strong>de</strong> <strong>de</strong> grille et la frontière entre ces <strong>de</strong>ux zones à la moitié <strong>de</strong> l’épaisseur <strong>de</strong> l’espaceur<br />

(illustrée sur la Figure III-17-a). Par conséquent, la composante C pccaflat doit être corrigée comme suit :<br />

Eq. III-45<br />

En comparant cette nouvelle expression aux mêmes simulations que dans la Figure III-16, on constate que notre<br />

modèle corrigé reproduit bien mieux les simulations.<br />

129

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