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Développement de modèles pour l'évaluation des performances ...

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Chapitre V: Evaluation <strong>de</strong>s <strong>performances</strong> avec <strong>de</strong>s outils <strong>de</strong> CAO conventionnels.<br />

V.A.2.<br />

Flot <strong>de</strong> simulation<br />

A partir <strong>de</strong> la <strong>de</strong>scription <strong>de</strong> l’architecture d’une technologie CMOS, nous pouvons désormais donner les<br />

caractéristiques statiques et dynamiques du couple NMOS/PMOS <strong>de</strong> cette technologie, puis d’évaluer les<br />

<strong>performances</strong> circuit au travers <strong>de</strong> simulations effectuées avec un simulateur <strong>de</strong> circuit conventionnel [ELDO]. Le<br />

flot <strong>de</strong> simulation <strong>de</strong> MASTAR VA est illustré par la Figure V-3.<br />

Description du transistor<br />

architecture<br />

Valeur <strong>de</strong>s principaux paramètres technologiques<br />

Calcul <strong>de</strong>s<br />

capacités<br />

parasites<br />

Calcul <strong>de</strong> l’électrostatique<br />

Calcul du transport<br />

VDT<br />

Mobilité universelle<br />

tel-00820068, version 1 - 3 May 2013<br />

Figure V-3 : flot <strong>de</strong> simulation <strong>de</strong> MASTAR VA.<br />

V.A.3.<br />

Calcul <strong>de</strong>s charges<br />

extrinsèques<br />

Circuits disponibles<br />

Calcul <strong>de</strong>s caractéristiques<br />

courant-tension continues<br />

Calcul <strong>de</strong>s charges<br />

intrinsèques<br />

Tension effective<br />

Dérivé du modèle <strong>de</strong> courant<br />

Simulation <strong>de</strong> circuit avec outil<br />

<strong>de</strong> CAO conventionnel<br />

Avec MASTAR VA, nous pouvons simuler <strong>de</strong> nombreux circuits :<br />

Les chaines d’inverseurs, décrits au cours du chapitre IV, <strong>pour</strong> différents FanOut. Pour être encore plus<br />

représentatif <strong>de</strong>s circuits « réels », nous avons placé une charge fixe à la sortie <strong>de</strong> chaque étage. Ce circuit<br />

est illustré sur la Figure V-4-d.<br />

Les anneaux résonnants d’inverseurs, qui n’apportent guère plus d’informations concernant la vitesse<br />

d’une technologie, mais qui permet <strong>de</strong> tester la robustesse du modèle et sa convergence. Ce type <strong>de</strong><br />

circuit est Illustré sur Figure V-4-e.<br />

Des chaines constituées <strong>de</strong> portes logiques un peu plus complexes : <strong>de</strong>s portes « non et » (en anglais<br />

NAND Figure V-4-b) et <strong>de</strong>s portes « non ou » (en anglais NOR Figure V-4-c). Les résultats <strong>de</strong> ces<br />

simulations n’apportent peu, voire pas d’information supplémentaire comparés à ceux obtenus avec les<br />

inverseurs. Comme ces simulations sont bien plus longues à effectuer par le simulateur (temps multiplié<br />

par ~5 car chaque étage compte un plus grand nombre <strong>de</strong> transistors que <strong>pour</strong> une chaine d’inverseur)<br />

nous avons choisi d’exploiter uniquement les résultats <strong>de</strong>s chaines d’inverseurs. Ces simulations ont<br />

cependant permis d’éprouver la robustesse du modèle.<br />

Des cellules mémoires SRAM (Static Random Access Memory Figure V-4-f.), constituées <strong>de</strong> <strong>de</strong>ux<br />

inverseurs tête-bêche et <strong>de</strong> <strong>de</strong>ux transistor d’accès, soit au total six transistors :<br />

o 2 PG (Pass Gate) : les transistors d’accès qui sont <strong>de</strong>s NMOS.<br />

o 2 PD (Pull Down) : le PMOS <strong>de</strong> chaque inverseur<br />

o 2 PU (Pull Up) : le NMOS <strong>de</strong> chaque inverseur<br />

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