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Développement de modèles pour l'évaluation des performances ...

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Chapitre I: Le transistor MOSFET: fonctionnement, miniaturisation et architectures.<br />

Ce chapitre a <strong>pour</strong> objectif <strong>de</strong> définir les différents concepts théoriques et les paramètres relatifs au transistor<br />

MOSFET (Métal-Oxy<strong>de</strong>-Semiconducteur). Nous commencerons par décrire l’architecture conventionnelle sur<br />

substrat massif classique (BULK) idéal, c’est-à-dire sans aucun effet parasite. Ensuite, nous expliciterons les effets<br />

<strong>de</strong> la course à la miniaturisation sur le fonctionnement du transistor MOSFET idéal. Nous détaillerons par la suite<br />

les solutions technologiques apportées à l’architecture conventionnelle sur substrat massif classique <strong>pour</strong> lutter<br />

contre ces effets, dits « parasites ». Enfin, la réduction <strong>de</strong>s dimensions <strong>de</strong> nœuds en nœuds <strong>de</strong> l’architecture<br />

conventionnelle sur substrat massif ne procurant plus suffisamment <strong>de</strong> gain en performance, nous décrirons les<br />

nouvelles architectures <strong>de</strong> transistor MOSFET envisagées.<br />

I.A. Le Transistor MOSFET idéal<br />

tel-00820068, version 1 - 3 May 2013<br />

I.A.1.<br />

Principe <strong>de</strong> fonctionnement<br />

Le transistor à effet <strong>de</strong> champ Métal-Oxy<strong>de</strong>-Semiconducteur (MOSFET <strong>pour</strong> Metal-Oxi<strong>de</strong>-Semiconductor Field<br />

Effect Transistor en anglais) est la brique <strong>de</strong> base <strong>de</strong>s circuits intégrés produits en technologie CMOS<br />

(Complementary Metal Oxy<strong>de</strong> Semiconductor). Ce transistor, très schématiquement représenté sur la Figure I-1-<br />

a, est composé <strong>de</strong> quatre électro<strong>de</strong>s : la grille (G), le drain (D), la source (S) et le substrat (B). Il a simplement <strong>pour</strong><br />

fonction <strong>de</strong>, selon la polarisation <strong>de</strong> comman<strong>de</strong> (appliquée sur la grille) laisser passer ou bloquer un courant entre<br />

la source et le drain. On résume alors souvent son fonctionnement à celui d’un interrupteur commandé en<br />

tension. En effet, le champ électrique vertical (dit champ <strong>de</strong> grille) dû à la polarisation <strong>de</strong> l’électro<strong>de</strong> <strong>de</strong><br />

comman<strong>de</strong> vient moduler la <strong>de</strong>nsité <strong>de</strong> porteurs dans le semiconducteur, ce qui mène aux <strong>de</strong>ux états <strong>de</strong><br />

fonctionnement fondamentaux du transistor MOSFET idéal :<br />

L’état bloqué : aucun courant ne circule entre source et drain (Figure I-1-b).<br />

L’état passant : un canal <strong>de</strong> conduction est formé par l’action du champ électrique vertical et, sous<br />

l’action du champ longitudinal (dû à la polarisation du drain et <strong>de</strong> la source) les porteurs du canal <strong>de</strong><br />

conduction sont mis en mouvement. Un courant <strong>de</strong> porteurs circule alors entre source et drain (I ds ), il<br />

s’agit d’électrons <strong>pour</strong> un NMOS et <strong>de</strong> trous <strong>pour</strong> un PMOS (Figure I-1-c).<br />

S<br />

G<br />

B<br />

D<br />

a) b) c)<br />

S<br />

G<br />

- - - -<br />

D S D<br />

I ds<br />

Etat bloqué<br />

Figure I-1: a) Schéma très simplifié d’un transistor MOSFET. b) Illustration <strong>de</strong> l’état passant (dans le cas d’un<br />

NMOS c) illustration <strong>de</strong> l’état bloqué.<br />

G<br />

I ds<br />

Etat passant<br />

- - Électrons<br />

mobiles<br />

I.A.2.<br />

L’architecture conventionnelle sur substrat massif (BULK)<br />

Technologiquement, le transistor MOSFET (Figure I-2) est composé d’un empilement métal-oxy<strong>de</strong>semiconducteur<br />

qui constitue une capacité MOS dans laquelle :<br />

Le métal est la grille, donc l’électro<strong>de</strong> <strong>de</strong> comman<strong>de</strong> du transistor. Historiquement, elle était constituée<br />

<strong>de</strong> polysilicium dopé à dégénérescence, mais dans les technologies CMOS avancées (<strong>de</strong>puis les nœuds 45-<br />

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