15.11.2014 Views

mikroschemų technologijų analizė - Vilniaus Gedimino technikos ...

mikroschemų technologijų analizė - Vilniaus Gedimino technikos ...

mikroschemų technologijų analizė - Vilniaus Gedimino technikos ...

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

6. DVIPOLIŲ TRANZISTORIŲ GAMYBOS TECHNOLOGINIŲ PROCESŲ PROJEKTAVIMAS IR ANALIZĖ<br />

ties emiterio viduriu, t. y. ties 8,5 µm abscisių tašku, matyti, kad<br />

X jE<br />

≈ 0,8 µm, X jB<br />

≈ 1,6 µm, X jC<br />

≈ 6,5 µm. Atliktų matavimų rezultatai<br />

pateikti 6.1 paveiksle.<br />

emiteris<br />

bazė<br />

kolektorius<br />

pagrindas<br />

SiO 2<br />

Al<br />

X jC<br />

X jB<br />

X jE<br />

6.2 pav. Priemaišų pasiskirstymas planarinės epitaksijos dvipolio n+pn tranzistoriaus<br />

struktūroje<br />

Norint nustatyti priemaišų pasiskirstymą norimose puslaidininkinės<br />

struktūros srityse, yra naudojama Tools→Cutline komandų<br />

seka. Atlikus šią komandą ir pasirinkus vertikalų žymeklį<br />

bei norimą abscisių ašies tašką (šiuo atveju ties emiterio viduriu,<br />

t. y. x = 8,5 μm), gaunamas efektinės priemaišų N ef<br />

koncentracijos<br />

(angl. net doping) grafikas (6.2. pav.). N ef<br />

yra donorinių N D<br />

ir akceptorinių N A<br />

priemaišų skirtumo modulis, t. y. N ef<br />

= |N D<br />

–<br />

138

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!