mikroschemų technologijų analizė - Vilniaus Gedimino technikos ...
mikroschemų technologijų analizė - Vilniaus Gedimino technikos ...
mikroschemų technologijų analizė - Vilniaus Gedimino technikos ...
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
6. DVIPOLIŲ TRANZISTORIŲ GAMYBOS TECHNOLOGINIŲ PROCESŲ PROJEKTAVIMAS IR ANALIZĖ<br />
ties emiterio viduriu, t. y. ties 8,5 µm abscisių tašku, matyti, kad<br />
X jE<br />
≈ 0,8 µm, X jB<br />
≈ 1,6 µm, X jC<br />
≈ 6,5 µm. Atliktų matavimų rezultatai<br />
pateikti 6.1 paveiksle.<br />
emiteris<br />
bazė<br />
kolektorius<br />
pagrindas<br />
SiO 2<br />
Al<br />
X jC<br />
X jB<br />
X jE<br />
6.2 pav. Priemaišų pasiskirstymas planarinės epitaksijos dvipolio n+pn tranzistoriaus<br />
struktūroje<br />
Norint nustatyti priemaišų pasiskirstymą norimose puslaidininkinės<br />
struktūros srityse, yra naudojama Tools→Cutline komandų<br />
seka. Atlikus šią komandą ir pasirinkus vertikalų žymeklį<br />
bei norimą abscisių ašies tašką (šiuo atveju ties emiterio viduriu,<br />
t. y. x = 8,5 μm), gaunamas efektinės priemaišų N ef<br />
koncentracijos<br />
(angl. net doping) grafikas (6.2. pav.). N ef<br />
yra donorinių N D<br />
ir akceptorinių N A<br />
priemaišų skirtumo modulis, t. y. N ef<br />
= |N D<br />
–<br />
138