Wpływ warunków wygrzewania na strukturę defektowÄ krzemu ...

emitowanego promieniowania charakterystycznego jak i elektronów Auger’a zależyod rodzaju pierwiastka, który uległ wzbudzeniu.Analiza subtelnej struktury widm absorpcji (XAFS, „X-ray Absorption FineStructure”) skupia się na badaniu zależności µ(E) dla energii w pobliżu i powyżej krawędziabsorpcji: strukturę bliską krawędzi absorpcji (XANES, „X-ray Absorption Near EdgeStructure”) – do ok. 50 eV za krawędzią; oraz rozciągniętą subtelną strukturę (EXAFS,„Extended X-ray Absorption Fine Structure”) sięgającą do ok. 1000 eV poza krawędź(przykład pokazany jest na rysunku 10.1).Rys. 10.1. Krawędź absorpcji K dla tytanu.Badania absorpcyjne dostarczają informacji o rozkładzie energetycznym gęstościwolnych stanów elektronowych, a także o lokalnym otoczeniu atomowym badanegopierwiastka. Ze względu na wysoką czułość i selektywność na obecność danego pierwiastka,technika XAS używana jest zarówno w badaniach materiałów krystalicznych, jak i o dużymnieporządku strukturalnym (ciecze, gazy), wliczając w to próbki wielofazowe. Pełnewykorzystanie możliwości opisywanej metody osiąga się dzięki zastosowaniupromieniowania synchrotronowego jako źródło promieniowania X. Analiza widm XANESdostarcza informacji o stanie chemicznym pierwiastka i jego konfiguracji elektronowej,natomiast wartość energii krawędzi absorpcji jest przybliżoną wartością wiązania elektronuna danej powłoce [113]. Z kolei technika EXAFS daje informację na temat otoczenia atomuabsorbującego w kolejnych strefach koordynacyjnych: liczbie i rodzaju atomów w danejstrefie, rodzaju atomów sąsiadujących oraz ich odległości od atomu centralnego(absorbującego).- 112 -