10.07.2015 Views

Wpływ warunków wygrzewania na strukturę defektową krzemu ...

Wpływ warunków wygrzewania na strukturę defektową krzemu ...

Wpływ warunków wygrzewania na strukturę defektową krzemu ...

SHOW MORE
SHOW LESS
  • No tags were found...

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

10.2. A<strong>na</strong>liza widm absorpcyjnych próbek Si:MnZarówno badania XANES jak i EXAFS przeprowadzone zostały <strong>na</strong> stacji pomiarowejA1 (później także <strong>na</strong> stacji E4 [112]) w laboratorium HASYLAB/DESY w Hamburgu,z wykorzystaniem promieniowania synchrotronowego. Pomiary wyko<strong>na</strong>no <strong>na</strong> krawędzi Kmanganu (energia E = 6,539 keV) w temperaturze ciekłego azotu (dla zminimalizowaniaefektów związanych z drganiami termicznymi) i przy użyciu detektora fluorescencyjnego.Przy opracowywaniu wyników XANES korzystano z oprogramowania FEFF 8.2/8.4,za pomocą którego, z metod „ab initio” („z pierwszych zasad”) obliczono teoretyczne krzyweabsorpcji dla zadanego klastera atomów [114,115]. We wszystkich obliczeniach używanoklasterów o promieniu 10 Å. A<strong>na</strong>liza wyników EXAFS wyko<strong>na</strong><strong>na</strong> została przy pomocyprogramów Artemis i Athe<strong>na</strong>, które są częścią pakietu IFEFFIT [116,117].Obliczenie widm teoretycznych dla rozmaitych modeli (np. Mn ulokowanyw pozycjach węzłowych sieci Si, czy też różne związki MnSi) a <strong>na</strong>stępnie porów<strong>na</strong>nie ichz widmami otrzymanymi doświadczalnie pozwoliło <strong>na</strong> elimi<strong>na</strong>cję <strong>na</strong>jmniej prawdopodobnychkonfiguracji i ustalenie tej <strong>na</strong>jbardziej prawdopodobnej dla lokalnej struktury wokół atomówmanganu. W obliczeniach numerycznych EXAFS rozważa<strong>na</strong> była wyłącznie pierwsza strefakoordy<strong>na</strong>cyj<strong>na</strong>, <strong>na</strong>tomiast w przypadku XANES, inne strefy także były brane pod uwagęw obliczeniach.Pierwsze badania EXAFS i XANES obejmowały próbki „as-implanted”: Cz-Si:Mn(T S = 340 K) i Fz-Si:Mn (T S = 610 K) i pozwoliły wykluczyć istnienie wydzieleń tlenowych,metalicznych oraz wykazały, że obie próbki nie posiadają struktury o dalekimuporządkowaniu, ponieważ w otrzymanych widmach eksperymentalnych EXAFS widocz<strong>na</strong>jest tylko pierwsza strefa koordy<strong>na</strong>cyj<strong>na</strong> [109,110]. Eksperyment wykazał, że w wynikuimplantacji atomy manganu nie lokują się w matrycy krzemowej, ale zaczy<strong>na</strong>ją formować sięw wydzielenia MnSi z zawartością atomów manganu niższą niż <strong>krzemu</strong> [109,110].Opisane dalej obliczenia przeprowadzone były w porów<strong>na</strong>niu ze wzorcemkrystalicznego związku MnSi, którego pierwsza strefa koordy<strong>na</strong>cyj<strong>na</strong> posiada czterypodstrefy [110]. Pierwsza podstrefa posiada jeden atom Si w odległości 2,31 Å od atomucentralnego Mn, druga – trzy atomy Si w odległości 2,40 Å, trzecia – trzy atomy Siw odległości 2,54 Å, oraz czwarta – sześć atomów Mn w odległości 2,80 Å.W przypadku niewygrzanej próbki Fz-Si implantowanej Mn + do gorącego podłożapomiary i dopasowania wykazały, że w pierwszej podstrefie, w odległości 2,45 Å z<strong>na</strong>jduje sięśrednio 4,7 atomów Si, <strong>na</strong>tomiast w drugiej podstrefie – 1,9 atomów Si w odległości 2,59 Å.- 113 -

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!