Wpływ warunków wygrzewania na strukturę defektowÄ krzemu ...

Literatura[1] T. Dietl, Postępy Fizyki 53D (2002) 14[2] T. Dietl, Semicond. Sci. Technol. 17 (2002) 377[3] H. Ohno, H. Munekata, T. Penney, S. von Molnar, L. L. Chang, Phys. Rev. Lett. 68(1992) 2664[4] H. Ohno, A. Shen, F. Matsukura, A. Oiwa, A. Endo, S. Katsumoto, Y. Iye, Appl. Phys.Lett. 69 (1996) 363[5] H. Ohno, Science 281 (1998) 951[6] F. Matsukura, H. Ohno, A. Shen, Y. Sugarawa, Phys. Rev. B 57 (1998) R2037[7] T. Story, R. R. Galazka, R. B. Frankel, P. A. Wolff, Phys. Rev. Lett. 56 (1986) 777[8] T. Dietl, A. Haury, Y. Merle d’Aubigne, Phys. Rev. B 55 (1997) R3347[9] A. Haury, A. Wasiela, A. Arnoult, J. Cibert, S. Tatarenko, T. Dietl, Y. Merle d’Aubigne,Phys. Rev. Lett. 79 (1997) 511[10] P. Kossacki, D. Ferrand, A. Arnoult, J. Cibert, S. Tatarenko, A. Wasiela, Y. Merled’Aubigne, J. -L. Staehli, J. -D. Ganiere, W. Bardyszewski, K. Swiatek, M. Sawicki,J. Wrobel, T. Dietl, Physica E 6 (2000) 709[11] D. Ferrand, J. Cibert, A. Wasiela, C. Bourgognon, S. Tatarenko, G. Fichman,T. Andrearczyk, J. Jaroszynski, S. Kolesnik, T. Dietl, B. Barbara, D. Dufeu, Phys. Rev. B63 (2001) 085201[12] T. Dietl, H. Ohno, F. Matsukura, J. Cibert, D. Ferrand, Science 287 (2000) 1019[13] T. Dietl, H. Ohno, F. Matsukura, Phys. Rev. B 63 (2001) 195205[14] G. A. Medvedkin, T. Ishibashi, T. Nishi, K. Hayata, Y. Hasegawa, K. Sato, Jpn. J. Appl.Phys. 39 (2000) L949[15] K. Ueda, H. Tabata, T. Kawai, Appl. Phys. Lett. 79 (2001) 988[16] S. Sonoda, S. Shimizu, T. Sasaki, Y. Yamamoto, H. Hori, J. Cryst. Growth 237-239(2002) 1358[17] L. Chen, S. Yan, P. F. Xu, J. Lu, W. Z. Wang, J. J. Deng, X. Qian, Y. Ji, J. H. Zhao, Appl.Phys. Lett. 95 (2009) 182505[18] Y. Matsumoto, M. Murakami, T. Shono, T. Hasegawa, T. Fukumura, M. Kawasaki,P. Ahmet, T. Chikyow, S. Koshihara, H. Koinuma, Science 291 (2001) 854[19] Y. D. Park, A. Wilson, A. T. Hanbicki, J. E. Mattson, T. Ambrose, G. Spanos,B. T. Jonker, Appl. Phys. Lett. 78 (2001) 016118- 120 -