WpÅyw warunkÃ³w wygrzewania na strukturÄ defektowÄ krzemu ...

More documents

Recommendations

Info

[73] M. A. Krivoglaz, „Theory of X-ray and thermal and neutron scattering by real crystals”,Plenum, Nowy York (1969)[74] M. A. Krivoglaz, „X-ray and neutron diffraction in nonideal crystals”, Springer, Berlin(1996)[75] P. H. Dederichs, Phys. Rev. B 1 (1970) 1306[76] P. H. Dederichs, Phys. Rev. B 4 (1971) 1041[77] P. H. Dederichs, J. of Phys. F: Metal Physics 3 (1973) 471[78] A. Shalimov, „Określanie wpływu wysokociśnieniowego wygrzewania na strukturędefektową wybranych warstw półprzewodnikowych”, rozprawa doktorska, Instytut FizykiPolskiej Akademii Nauk, Warszawa (2006)[79] M. Moreno, B. Jenichen, V. Kaganer, W. Braun, A. Trampert, L. Daweritz, K. H. Ploog,Phys. Rev. B 67 (2003) 235206[80] J. Kozubowski, „Metody transmisyjnej mikroskopii elektronowej”, Wydawnictwo Śląsk,Katowice (1974)[81] G. Schimmel, „Metodyka mikroskopii elektronowej”, Państwowe WydawnictwoNaukowe, Warszawa (1976)[82] J. Kątcki, „Zastosowanie mikroskopii elektronowej w badaniach materiałów i przyrządówpółprzewodnikowych”, Instytut Technologii Elektronowej, Warszawa (2000)[83] http://tem.ifpan.edu.pl/JEM2000EX/JEM2000EX.html[84] http://awtem.ifpan.edu.pl/[85] J. R. Patel, J. Appl. Cryst. 8 (1975) 186[86] W. A. Wooster, „Diffuse X-ray reflections from crystals”, Dover, Nowy York (1997)[87] W. A. Brantley, J. of Appl. Phys. 44 (1973) 534[88] J. J. Wortman, R. A. Evans, J. of Appl. Phys. 36 (1965) 153[89] R. J. Matyi, M. R. Melloch, K. Zhang, D. L. Miller, J. Phys. D: Appl. Phys. 28 (1995)A139[90] L. A. Charniy, A. N. Morozov, K. D. Scherbachev, V. T. Bublik, I. V. Stepantsova,J. Cryst. Growth 116 (1992) 369[91] V. T. Bublik, S. Y. Mantzev, K. D. Scherbachev, M. V. Merezhnyj, M. G. Milvidsky,V. Y. Reznik, Fizika Tverdogo Tela 45 (2003) 1825[92] J. Gronkowski, „Elementy teorii dynamicznej dyfrakcji promieni X”, skrypt akademicki,Instytut Fizyki Uniwersytetu Warszawskiego[93] M. von Laue, Ergeb. exact. Naturw. 10 (1931) 133- 124 -
[94] M. von Laue, „Rontgenstrahlinterferenzen”, Akademische Verlagsgesellschaft,Frankfurt/Main (1960)[95] R. W. James, Solid State Phys. 15 (1963) 53[96] B. W. Batterman, H. Cole, Rev. Mod. Phys. 36 (1964) 681[97] S. Takagi, Acta Crystallogr. 15 (1962) 1311[98] S. Takagi, J. Phys. Soc. Japan 26 (1969) 1239[99] D. Taupin, Bull. Soc. Franc. Mineral. Cristall. 87 (1964) 469[100] J.Z. Domagała, Instytut Fizyki PAN, SL1.3, Warszawa, informacja prywatna[101] X’Pert Epitaxy and Smoothfit 4.0 Help[102] W. Knoff, „Półprzewodnikowe magnetyczne warstwy (Ge,Mn)Te – otrzymywanie orazwłaściwości elektryczne i magnetyczne”, rozprawa doktorska, Instytut Fizyki PolskiejAkademii Nauk, Warszawa (2011)[103] X. C. Liu, Z. H. Lu, Z. L. Lu, L. Y. Lv, X. S. Wu, F. M. Zhang, Y. W. Du, J. Appl. Phys.100 (2006) 073903[104] X. C. Liu, Y. B. Lin, J. F. Wang, Z. H. Lu, Z. L. Lu, J. P. Xu, L. Y. Lv, F. M. Zhang,Y. W. Du, J. Appl. Phys. 102 (2007) 033902[105] S. Yabuuchi, Y. Ono, M. Nagase, H. Kageshima, A. Fujiwara, E. Ohta, Japanese Journalof Applied Physics 47 (2008) 4487[106] S. Zhou, A. Shalimov, K. Potzger, M. Helm, J. Fassbender, H. Schmidt, Phys. Rev. B 80(2009) 174423[107] T. Dubroca, J. Hack, R. E. Hummel, A. Angerhofer, Appl. Phys. Lett. 88 (2006) 182504[108] A. F. Orlov, A. B. Granovsky, L. A. Balagurov, I. V. Kulemanov, Y. N. Parkomenko,N. S. Perov, E. A. Gan’shina, V. T. Bublik, K. D. Shcherbacjev, A. V. Kartavykh,V. I. Vdovin, A. Sapelkin, V. V. Saraikin, Y. A. Agafonov, V. I. Zinenko, A. Rogalev,A. Smekova, Journal of Experimental and Theoretical Physics 109 (2009) 602[109] A. Wolska, K. Lawniczak-Jablonska, M. Klepka, M. S. Walczak, A. Misiuk, SynchrotronRadiation in Natural Science 5 (3) (2006) 194[110] A. Wolska, K. Lawniczak-Jablonska, M. Klepka, M. S. Walczak, Phys. Rev. B 75 (2007)113201[111] A. Wolska, K. Lawniczak-Jablonska, S. Kret, P. Dluzewski, A. Szczepanska, M. Klepka,M. S. Walczak, Y. Lefrais, M. J. Hytch, A. Misiuk, Journal of Non-Crystalline Solids 354(2008) 4189[112] A. Wolska, M. T. Klepka, K. Lawniczak-Jablonska, A. Misiuk, D. Arvanitis, RadiationPhysics and Chemistry 80 (2011) 1119- 125 -
Page 1:
INSTYTUT FIZYKI POLSKIEJ AKADEMII N
Page 7 and 8:
1. Wprowadzenie do tematyki badań
Page 10 and 11:
zastosowanego w procesie poimplanta
Page 12 and 13:
2. Preparatyka, obróbka oraz proce
Page 14 and 15:
0∫R = S(E)dE(2.1)pE0gdzie: S - zd
Page 16 and 17:
∂cJ = −D(2.2)∂xgdzie: D - wsp
Page 18 and 19:
yć wygięcie bloku krystalicznego,
Page 20:
Stosowany w naszym eksperymencie uk
Page 24 and 25:
natomiast drugi, w pozycji 53,58°,
Page 26 and 27:
i 1270 K pojawiają się dodatkowe
Page 28 and 29:
Rys. 3.8. Dyfraktogramy próbek Cz-
Page 30 and 31:
z odpowiadającymi im krzywymi dla
Page 32 and 33:
Fz-Si:Mn (T S = 610 K), po wygrzani
Page 34 and 35:
3.4.1. Parametry sieci wydzieleń M
Page 36 and 37:
zastosowanego ciśnienia hydrostaty
Page 38 and 39:
4. Badania próbek Si:Mn z zastosow
Page 40 and 41:
to ilość wystarczająca dla uzysk
Page 42 and 43:
4.2.2. Wpływ temperatury wygrzewan
Page 44 and 45:
Rys. 4.5. Profile głębokościowe
Page 46 and 47:
Rys. 4.7. Profile głębokościowe
Page 48 and 49:
Profile głębokościowe Mn dla pr
Page 50 and 51:
5. Badanie struktury defektowej Si:
Page 52 and 53:
W praktyce dużo wygodniejsze jest
Page 54 and 55:
Dyfraktometr Philips MRD wyposażon
Page 56 and 57:
zachodzi zjawisko dyfrakcji, można
Page 58 and 59:
dyfrakcyjnej. Pomiar krzywej odbić
Page 60 and 61:
Rys. 5.9. Schemat mapowania węzła
Page 62 and 63:
Występowanie defektów punktowych
Page 64 and 65:
temperatury, a także ciśnienia. R
Page 66 and 67:
Rys. 5.12. Mapy węzła 004 sieci o
Page 68 and 69:
w płaszczyznach {110} dość dobrz
Page 70 and 71:
Page 72 and 73:
Page 74 and 75: Wykonane symulacje numeryczne map w
Page 76 and 77: Rys. 6.1. Ogólny schemat budowy tr
Page 78 and 79: próbkom wygrzewanym w ciśnieniu p
Page 80 and 81: o wielkości do kilkudziesięciu nm
Page 82 and 83: (a) (b) (c)Rys. 6.5. Zdjęcia TEM d
Page 84 and 85: → →Π (m, n) - bezwymiarowy czy
Page 86 and 87: Zmienna C jest tzw. „siłą” de
Page 88 and 89: Wilsona był obecny. Zatem podjęto
Page 90 and 91: Obliczone i przedstawione w tabeli
Page 92 and 93: propagacji promieniowania rentgenow
Page 94 and 95: Si:Mn, pokazano, że dla próbek ni
Page 96 and 97: Rys. 8.1. Dyfraktogramy I(2θ/ω) w
Page 98 and 99: Rys. 8.4. Dyfraktogramy I(2θ/ω) w
Page 100 and 101: Rys. 8.5. Dyfraktogram I(2θ/ω) wo
Page 102 and 103: na to, że przyczyną takiego stanu
Page 104 and 105: 9.2. Wyniki pomiarów magnetycznych
Page 106 and 107: Rys. 9.3. Krzywe namagnesowania (zn
Page 108 and 109: Rys. 9.4. Krzywe namagnesowania (be
Page 110 and 111: wynika, że parametry sieci wydziel
Page 112 and 113: emitowanego promieniowania charakte
Page 114 and 115: Ważną obserwacją okazało się,
Page 116 and 117: którym określono liczbę, rodzaj
Page 118 and 119: Badanie rentgenowskiego rozpraszani
Page 120 and 121: Literatura[1] T. Dietl, Postępy Fi
Page 122 and 123: [38] J. Bak-Misiuk, P. Romanowski,
Page 126 and 127: [113] M. Klepka, „Wyznaczanie sk
Page 128 and 129: 10. A. Misiuk, A. Barcz, J. Bąk-Mi
Page 130: 27. E. Dynowska, J. Bąk-Misiuk, P.
show all

WpÅyw warunkÃ³w wygrzewania na strukturÄ defektowÄ krzemu ...

Create successful ePaper yourself

Delete template?

Save as template?

WpÅyw warunkÃ³w wygrzewania na strukturÄ defektowÄ krzemu ...