10.07.2015 Views

Wpływ warunków wygrzewania na strukturę defektową krzemu ...

Wpływ warunków wygrzewania na strukturę defektową krzemu ...

Wpływ warunków wygrzewania na strukturę defektową krzemu ...

SHOW MORE
SHOW LESS
  • No tags were found...

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

Dyfraktometr Philips MRD wyposażony jest w lampę rentgenowską z anodąmiedzianą będącą źródłem promieniowania X i ogniskiem punktowym 1x1 mm 2 . Typowewarunki pracy tej lampy to: 40 mA (prąd anody) oraz 35 kV (<strong>na</strong>pięcie przyspieszające).Wykorzystywa<strong>na</strong> do pomiarów długość fali promieniowania charakterystycznego liniiCu Kα1 wynosi λ = 1,54056 Å. Rozbież<strong>na</strong> kątowo wiązka formowa<strong>na</strong> jest przy użyciuczteroodbiciowego monochromatora Bartelsa wyko<strong>na</strong>nego z dwóch wyciętych ka<strong>na</strong>łowokryształów germanu, z płaszczyzną odbijającą 220. Następnie monochromatycz<strong>na</strong> wiązkaprzechodzi przez parę standardowych szczelin regulujących przekrój poprzeczny wiązki:szczeliny poziome (o zmiennej szerokości do 3 mm) oraz pionowe (o stałej szerokości0,5 mm).Rys. 5.4. Schemat możliwych ruchów uchwytu próbki oraz ramienia detektoraprzy użyciu dyfraktometru Philips MRD.Goniometr dyfraktometru Philips MRD umożliwia wykonywanie dyfrakcjiw geometrii odbiciowej. Jego konstrukcja pozwala <strong>na</strong> przesuwanie próbki umocowanej<strong>na</strong> specjalnym talerzowym uchwycie wzdłuż osi x, y, z, oraz jej obrót o kąt ψ (wokół osi x),ω (wokół osi y) i ϕ (wokół osi z). Przesuw wzdłuż osi x i y ma <strong>na</strong> celu odpowiednieustawienie próbki w stosunku do wiązki, <strong>na</strong>tomiast ruch wzdłuż osi z umożliwia badaniepróbek o różnej grubości. Obrót ω, zgodnie z wcześniejszymi oz<strong>na</strong>czeniami, umożliwiazmianę kąta ustawienia próbki w stosunku do padającej wiązki, czyli innymi słowy pozwalazmieniać kąt padania wiązki <strong>na</strong> powierzchnię kryształu. Podczas badania odbić od danejpłaszczyzny ważne jest, aby była o<strong>na</strong> ustawio<strong>na</strong> możliwie jak <strong>na</strong>jdokładniej prostopadle- 54 -

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!