Wpływ warunków wygrzewania na strukturę defektowÄ krzemu ...

dyfrakcyjnej. Pomiar krzywej odbić odbywa się w konfiguracji dwuosiowej, czyli wiązkaugięta „wpada” prosto do detektora a zebrane natężenie jest sumą natężeń zebranych z ok. 2°kąta akceptacji licznika. Pomiar I(ω) wykonany w modzie trójosiowym, zwyczajowonie nazywany już krzywą odbić, daje informację m.in. na temat wygięcia kryształu,dezorientacji płaszczyzn sieciowych w stosunku do powierzchni, granic niskokątowychpomiędzy ewentualnymi ziarnami (blokami), czy też pozwala na analizę ilościowąi jakościową struktury defektowej poprzez badanie kształtu krzywej. Warto podkreślić,że za pomocą skanu ω rejestrowane jest natężenie wiązki ugiętej wyłącznie na płaszczyznacho jednakowych odległościach międzypłaszczyznowych, ale mogących mieć różne nachyleniew stosunku do powierzchni kryształu.Rys. 5.7. Schemat skanu 2θ węzła sieciowego w przestrzeni odwrotnej.Drugim w kolejności typem krzywej mierzonej techniką dyfraktometriiwysokorozdzielczej, jest krzywa I(2θ), tzw. skan 2θ, który z reguły wykonywany jestw konfiguracji trójosiowej. Jest to pomiar natężenia I wiązki ugiętej w funkcji kąta 2θ obrotudetektora – tym razem próbka pozostaje nieruchoma (kąt ω jest stały), natomiast obraca sięwyłącznie detektor – zmienny jest kąt 2θ pomiędzy wektorem fali padającej K →0a wektoremfali ugiętejK → i . Skanowanie odbywa się w kierunku prostopadłym do wektora K →i– wektordyfrakcji → Q porusza się wzdłuż sfery Ewalda. Pokazane jest to na rysunku 5.7. Stały kątpadania wiązki na powierzchnię kryształu (czyli także kąt padania wiązki na płaszczyznykrystalograficzne) pozwala na pomiar natężenia pochodzącego od ugięcia na płaszczyznach- 58 -