Wpływ warunków wygrzewania na strukturę defektowÄ krzemu ...

[73] M. A. Krivoglaz, „Theory of X-ray and thermal and neutron scattering by real crystals”,Plenum, Nowy York (1969)[74] M. A. Krivoglaz, „X-ray and neutron diffraction in nonideal crystals”, Springer, Berlin(1996)[75] P. H. Dederichs, Phys. Rev. B 1 (1970) 1306[76] P. H. Dederichs, Phys. Rev. B 4 (1971) 1041[77] P. H. Dederichs, J. of Phys. F: Metal Physics 3 (1973) 471[78] A. Shalimov, „Określanie wpływu wysokociśnieniowego wygrzewania na strukturędefektową wybranych warstw półprzewodnikowych”, rozprawa doktorska, Instytut FizykiPolskiej Akademii Nauk, Warszawa (2006)[79] M. Moreno, B. Jenichen, V. Kaganer, W. Braun, A. Trampert, L. Daweritz, K. H. Ploog,Phys. Rev. B 67 (2003) 235206[80] J. Kozubowski, „Metody transmisyjnej mikroskopii elektronowej”, Wydawnictwo Śląsk,Katowice (1974)[81] G. Schimmel, „Metodyka mikroskopii elektronowej”, Państwowe WydawnictwoNaukowe, Warszawa (1976)[82] J. Kątcki, „Zastosowanie mikroskopii elektronowej w badaniach materiałów i przyrządówpółprzewodnikowych”, Instytut Technologii Elektronowej, Warszawa (2000)[83] http://tem.ifpan.edu.pl/JEM2000EX/JEM2000EX.html[84] http://awtem.ifpan.edu.pl/[85] J. R. Patel, J. Appl. Cryst. 8 (1975) 186[86] W. A. Wooster, „Diffuse X-ray reflections from crystals”, Dover, Nowy York (1997)[87] W. A. Brantley, J. of Appl. Phys. 44 (1973) 534[88] J. J. Wortman, R. A. Evans, J. of Appl. Phys. 36 (1965) 153[89] R. J. Matyi, M. R. Melloch, K. Zhang, D. L. Miller, J. Phys. D: Appl. Phys. 28 (1995)A139[90] L. A. Charniy, A. N. Morozov, K. D. Scherbachev, V. T. Bublik, I. V. Stepantsova,J. Cryst. Growth 116 (1992) 369[91] V. T. Bublik, S. Y. Mantzev, K. D. Scherbachev, M. V. Merezhnyj, M. G. Milvidsky,V. Y. Reznik, Fizika Tverdogo Tela 45 (2003) 1825[92] J. Gronkowski, „Elementy teorii dynamicznej dyfrakcji promieni X”, skrypt akademicki,Instytut Fizyki Uniwersytetu Warszawskiego[93] M. von Laue, Ergeb. exact. Naturw. 10 (1931) 133- 124 -