Wpływ warunków wygrzewania na strukturę defektowÄ krzemu ...

o różnych odległościach między nimi. Celem stosowania takiego skanu, jest optymalizacjaustawienia licznika w dokładnej pozycji kąta Bragga dla badanych płaszczyzn sieciowych.Krzywa I(2θ/ω), tzw. skan 2θ/ω, wykonywany przede wszystkim w modzietrójosiowym, jest pomiarem natężenia I wiązki ugiętej w funkcji zmieniającego się kąta 2θprzy jednoczesnej zmianie kąta padania ω. Ruch próbki i detektora jest sprzężony – prędkośćkątowa licznika jest dwa razy większa niż prędkość kątowa obrotu kryształu próbki.Skanowanie przestrzeni odwrotnej odbywa się w kierunku równoległym do wektora dyfrakcji→Q – obrazuje to rysunek 5.8. Skan ten najczęściej używany jest do wyznaczania odległościmiędzypłaszczyznowych badanych kryształów, a dzięki temu – do wyznaczenia parametrówsieciowych. W odróżnieniu od skanu ω, rejestrowane natężenie zawiera w sobie informacjęo ugięciu na płaszczyznach o różnej odległości międzypłaszczyznowej, ale równoległychdo siebie (o jednakowym nachyleniu względem powierzchni kryształu), stąd przy pomocyskanu 2θ/ω możliwe jest badanie np. układów warstwowych o różnych parametrachsieciowych, czy też określanie rozrzutu parametru sieciowego w niejednorodnym krysztale.Rys. 5.8. Schemat skanu 2θ/ω węzła sieciowego w przestrzeni odwrotnej.5.1.4. Mapy węzła sieci odwrotnejMapy w przestrzeni odwrotnej (RCM, „Reciprocal Space Map”) to nic innego,jak graficzne przestawienie wielu skanów 2θ/ω otrzymanych dla różnych wartości ω. Kolejnekrzywe I(2θ/ω) mierzone są „wzdłuż” krzywej I(ω). Proces ten pokazany jest na rysunku 5.9.Mapa węzła sieci odwrotnej typowo wykonywana jest w konfiguracji trójosiowej.- 59 -