Wpływ warunków wygrzewania na strukturę defektowÄ krzemu ...

z odpowiadającymi im krzywymi dla próbek wygrzewanych w czasie 1 h. Wyniki pomiarówdyfrakcyjnych w geometrii poślizgowej dla próbek Si:Mn wygrzewanych w różnych czasach,oraz zestawione dla różnych, przykładowych temperatur, przedstawiono na rysunkach 3.11,3.12 i 3.13 (rys. 3.11 – Cz-Si:Mn, T S = 340 K; rys. 3.12 – Cz-Si:Mn, T S = 610 K; rys. 3.13– Fz-Si:Mn, T S = 610 K)). Wszystkie omawiane w tym rozdziale próbki wygrzewane byływ ciśnieniu p A = 10 5 Pa.Rys. 3.11. Dyfraktogramy próbek Cz-Si:Mn (T S = 340 K):T A = 610 K, t A = 1 h (a); T A = 720 K, t A = 10 h (b); T A = 870 K, t A = 1 h (c); T A = 920 K, t A = 10 h (d).Rys. 3.12. Dyfraktogramy próbek Cz-Si:Mn (T S = 610 K):T A = 1070 K, t A = 1 h (a); T A = 1070 K, t A = 5 h (b); T A = 1270 K, t A = 1 h (c); T A = 1270 K, t A = 5 h (d).- 30 -