10.07.2015 Views

Wpływ warunków wygrzewania na strukturę defektową krzemu ...

Wpływ warunków wygrzewania na strukturę defektową krzemu ...

Wpływ warunków wygrzewania na strukturę defektową krzemu ...

SHOW MORE
SHOW LESS
  • No tags were found...

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

8. Badanie rozkładu <strong>na</strong>prężeń w próbkach Si:Mn z zastosowaniem symulacjikrzywych dyfrakcyjnych I(2θ/ω)W rozdziale 5, w którym omówiono badania struktury defektowej przy użyciumapowania węzłów sieci odwrotnej, wykazano istnienie poimplantacyjnych <strong>na</strong>prężeństruktury, które <strong>na</strong> mapach węzła 004 Si uwidaczniały się w postaci pewnego pasma<strong>na</strong>prężeniowego, skierowanego wzdłuż osi Q z , po stronie mniejszych wartości od maksimumbraggowskiego. Naprężenia te powodują odkształcenia komórek elementarnych matrycy,stąd <strong>na</strong> dyfraktogramach I(2θ/ω), które są „przekrojem” węzła wzdłuż osi Q z , obserwujemyasymetrię piku podłożowego (po stronie mniejszych kątów 2θ), która informuje <strong>na</strong>so rozrzucie parametru sieci matrycy. Szczegóły dotyczące specyfiki pomiaru I(2θ/ω) podanezostały w rozdziale 5.1.3.Mając do dyspozycji otrzymane doświadczalnie dyfraktogramy I(2θ/ω) dla próbekSi:Mn, przeprowadzono symulacje dopasowania krzywych I(2θ/ω) obliczonych przy użyciustandardowego oprogramowania X’Pert Epitaxy and Smoothfit firmy PANalitycal,co w rezultacie pozwoliło <strong>na</strong> oszacowanie rozkładu <strong>na</strong>prężeń w badanych próbkach.Ponieważ efekty, o których mowa w tym rozdziale są wynikiem odbić spójnych(koherentnych), w związku z tym, metody obliczeniowe stosowane we wspomnianymprogramie korzystają z teorii dy<strong>na</strong>micznej dyfrakcji promieniowania X [92]. A<strong>na</strong>liza stanu<strong>na</strong>prężeń w próbkach Si:Mn ma istotne z<strong>na</strong>czenie przy charakteryzowaniu własnościfizycznych badanych próbek.8.1. Elementy teorii dy<strong>na</strong>micznej dyfrakcji promieniowania X dla kryształu o małejdeformacjiTeoria dy<strong>na</strong>micz<strong>na</strong> dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego w odróżnieniuod teorii kinematycznej uwzględnia czynniki wpływające <strong>na</strong> <strong>na</strong>tężenie wiązki ugiętej, takiejak: osłabienie wiązki (absorpcja), wielokrotne odbicie, oddziaływanie pomiędzy faląpadającą a rozproszoną, zmiany długości fali w krysztale (współczynnik załamania światła).Teoria ta, w formie opracowanej przez Lauego [93,94] a <strong>na</strong>stępnie rozwiniętej przez Authiera[72], Jamesa [95] oraz Batterma<strong>na</strong> i Cole’a [96] zakłada, że fala płaska o nieskończonejszerokości pada <strong>na</strong> kryształ o pewnej grubości, która dla przypadku odbiciowego może byćnieskończo<strong>na</strong>. Najbardziej ogól<strong>na</strong> teoria opisująca wszystkie zjawiska towarzyszące- 91 -

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!