Wpływ warunków wygrzewania na strukturę defektowÄ krzemu ...

ędzie równa pewnemu wektorowi sieci odwrotnej→Qhkl, odpowiadającemu płaszczyzmomsieciowym hkl o odległości międzypłaszczyznowej d hkl . Czyli musi być spełniona tożsamość:→ →Q = Q(5.3)Warunek ten można określać mianem warunku Bragga w przestrzeni odwrotnej, jako że jestmu równoważny. Wektor sieci odwrotnej→hklhklQ jest zawsze prostopadły do odpowiadającychpłaszczyzn sieciowych hkl a jego długość wynosi n/d hkl (dla pierwszego rzędu odbicia długośćta wynosi 1/d hkl ) [67].5.1.2. Dyfraktometr wysokorozdzielczyWszystkie pomiary opisane w tym rozdziale wykonano przy użyciuwysokorozdzielczego dyfraktometru MRD (Materials Research Diffractometer) firmy Philips[70] (rys. 5.3). Dyfraktometr ten przeznaczony jest do badań monokryształów o wysokiejdoskonałości strukturalnej i pozwala na uzyskiwanie informacji o bardzo wysokiej precyzji.Podobnie jak każdy z typowych dyfraktometrów laboratoryjnych, składa się z czterechpodstawowych elementów: lampy rentgenowskiej (zasilanej z generatora), układu formującego wiązkę padającą (w przypadku MRD jest to monochromator wrazze szczelinami kształtującymi wiązkę), goniometru wraz ze stolikiem do mocowania próbki, układu rejestrującego wiązkę ugiętą (analizator oraz detektor).Rys. 5.3. Dyfraktometr Philips MRD w laboratorium SL1.3 Instytutu Fizyki PAN:widok z zewnątrz (z lewej) oraz wnętrze (z prawej).- 53 -