10.07.2015 Views

Wpływ warunków wygrzewania na strukturę defektową krzemu ...

Wpływ warunków wygrzewania na strukturę defektową krzemu ...

Wpływ warunków wygrzewania na strukturę defektową krzemu ...

SHOW MORE
SHOW LESS
  • No tags were found...

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

Inny przypadek ma miejsce dla próbek Fz-Si implantowanych Mn + do gorącegopodłoża oraz wygrzewanych w temperaturach 1070 i 1270 K (rys. 5.18 (b) i (c)). Po procesie<strong>wygrzewania</strong> w podwyższonym ciśnieniu widać pewną zmianę kształtu rozpraszaniadyfuzyjnego w stosunku do próbki wygrzanej w ciśnieniu atmosferycznym. Jed<strong>na</strong>k dla obumap, kształt izokonturów rozpraszania w dalszym ciągu odpowiada strukturze defektowejw postaci pętli dyslokacyjnych, a widoczne różnice w zakresach izokonturów związane sąprawdopodobnie ze zniszczeniem powierzchni w wyniku wysokociśnieniowego<strong>wygrzewania</strong>.5.2.7. Wpływ czasu <strong>wygrzewania</strong> <strong>na</strong> rozpraszanie dyfuzyjne dla próbek Si:MnPróbki Si:Mn wygrzane w czasie t A = 5 i 10 h były także przedmiotem badańdyfrakcyjnych w celu a<strong>na</strong>lizy rozpraszania dyfuzyjnego wokół węzła 004 Si. Jed<strong>na</strong>kw zdecydowanej większości przypadków nie obserwowano żadnych istotnych zmianw kształcie izokonturów, podobnie jak w przypadku <strong>wygrzewania</strong> w podwyższonymciśnieniu. Z przedstawionych w rozdziale 3.3.6 rozważań wynika, że wpływ czasu<strong>wygrzewania</strong> <strong>na</strong> strukturę krystaliczną próbek Si:Mn jest znikomy. W przypadku rozpraszaniadyfuzyjnego, nie zauważono także żadnej zależności. Mając <strong>na</strong> uwadze wyniki badańdyfrakcyjnych w geometrii poślizgowej z rozdziału 3.3.6, moż<strong>na</strong> przyjąć, że strukturadefektowa Si:Mn kształtuje się zasadniczo w ciągu pierwszej godziny <strong>wygrzewania</strong>.5.3. Podsumowanie wyników badań struktury defektowej otrzymanych dziękia<strong>na</strong>lizie rozpraszania dyfuzyjnego dla próbek Si:MnPrzeprowadzono pomiary mające <strong>na</strong> celu uzyskanie dyfrakcyjnych map węzła 004 Sisieci odwrotnej dla trzech grup próbek Si:Mn. Na podstawie izokonturów rozpraszaniadyfuzyjnego określono zmiany w strukturze defektowej tych próbek w zależnościod warunków implantacji oraz poimplantacyjnego <strong>wygrzewania</strong>.Z a<strong>na</strong>lizy otrzymanych map wynika, że: Po procesie implantacji a także po wygrzaniu w temperaturach do 870 K występująpoimplantacyjne <strong>na</strong>prężenia sieci krystalicznej. Wygrzewanie w wyższych temperaturachpowoduje zanikanie tych <strong>na</strong>prężeń, co prawdopodobnie spowodowane jestuporządkowaniem struktury krystalicznej.- 73 -

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!