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Beugung und Interferenz - Walther Meißner Institut

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258 R. GROSS Kapitel 5: <strong>Beugung</strong> <strong>und</strong> <strong>Interferenz</strong>Hierbei ist λ =(λ 1 + λ 2 )/2. Diese Bedingung wird Auflösungsgrenze genannt. Der inverse Ausdruckλ/∆λ heißt Auflösungsvermögen. Ist a = 1 mm <strong>und</strong> λ = 500 nm, so wird ein Auflösungsvermögen biszu 4000 erreicht. Enthält die Quelle allerdings mehr als zwei Wellenlängen, so wird das <strong>Beugung</strong>smusterkompliziert <strong>und</strong> es ist keine so einfache Interpretation mehr möglich. Es werden dann kompliziertereTechniken, wie z.B. die Fourier-Spektroskopie (siehe Abschnitt 5.7.3), benötigt. Unsere jetzige Abhandlungenthält aber die vollständige Physik der so genannten Zweistrahlinterferometrie.5.7.2 <strong>Beugung</strong>sgitterEine bedeutende Verbesserung im Auflösungsvermögen wird durch den Übergang von dem eben besprochenenZweispaltsystem zu einem <strong>Beugung</strong>sgitter erreicht (siehe Abb. 5.39). Ein <strong>Beugung</strong>sgitterist eine eindimensionale Anordnung von Blenden (z.B. schmalen Spalten oder Spiegeln). Wir haben inAbschnitt 5.5.3 gesehen, dass das <strong>Beugung</strong>smuster einer solchen Anordnung eine periodische Anordnungvon Delta-Funktionen ist, deren Stärke durch die genaue Form <strong>und</strong> Größe der einzelnen Blendengegeben ist. Die Positionen der Delta-Funktionen werden nur durch die Gitterperiode a bestimmt <strong>und</strong>mit (5.5.16) lässt sich die Bedingung für das Auftreten von Intensitätsmaxima schreiben alsu = k 0 (sin θ − sinθ 0 ) = u m = ±m 2π aoder ∆s = asin θ = ±m λ m = 0,1,2,3,... . (5.7.12)Hierbei ist m die <strong>Beugung</strong>sordnung <strong>und</strong> ∆s der Laufwegunterschied von Teilwellen benachbarter Gitterspalte(vergleiche Abb. 5.27). Da k 0 = 2π/λ in der Definition von u enthalten ist, ist wie in Abb. 5.39gezeigt der <strong>Beugung</strong>swinkel wellenlängenabhängig. Diese Abhängigkeit macht <strong>Beugung</strong>sgitter zu wichtigenInstrumenten in der Spektroskopie, man nennt sie Gitterspektrometer. Wir werden sie im Folgendenim Rahmen der skalaren Näherung diskutieren.Wir wollen an dieser Stelle deutlich machen, dass <strong>Beugung</strong>serscheinungen nicht nur beim Durchgangeines Lichtbündels durch eine begrenzende Öffnung auftreten, sondern auch bei der Reflexion an einerspiegelnden Fläche. So erhält man z.B. durch Reflexion an einer spiegelnden Kreisfläche im reflektiertenLicht ein <strong>Beugung</strong>smuster, das völlig dem im durch eine Öffnung gleicher Form transmittierten Lichtentspricht. Wir werden weiter unten sehen, dass Reflexionsgitter gegenüber Transmissionsgittern Vorteilehinsichtlich der <strong>Beugung</strong>seffizienz besitzen.Herstellung von <strong>Beugung</strong>sgitternDie ersten Gitter wurden durch Ritzen von feinen Linien in Glas oder Metall mittels einer Diamantspitzehergestellt. Rowland verwendete z.B. ein genaues Gewinde, um die Diamantspitze lateral zu verschieben,um einen wohldefinierten Abstand zwischen den einzelnen Linien zu erhalten. Diese Herstellungsmethodeerfordert aber komplizierte Maschinen, da man während des Ritzens thermische Ausdehnungseffekteoder Veränderungen der Diamantspitze vermeiden muss.In den letzten Jahren haben sich die Herstellungsverfahren für Gitter stark verändert. Gitter wurden z.B.dadurch hergestellt, indem man zuerst in eine Zylinderoberfläche ein sehr feines Gewinde geschnittenhat. Der Zylinder wird dann anschließend mit einem Kunststoff beschichtet, der dadurch einen genauenAbdruck des Gewindes enthält. Der Kunststoff wird schließlich abgewickelt <strong>und</strong> stellt ein überraschendgenaues Gitter dar, das sich auf diese Weise sehr billig herstellen lässt.c○<strong>Walther</strong>-Meißner-<strong>Institut</strong>

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