Beugung und Interferenz - Walther Meißner Institut

266 R. GROSS Kapitel 5: Beugung und InterferenzI m =[ ( )]sin 2 bπkam − m 1 i k 0[ ( )] 2. (5.7.26)bπ kam − m 1 i k 0Hierbei haben wir die Blaze-Bedingung k 0 sinβ = 2πm i /a dazu benutzt, sinβ als Funktion von k 0 auszudrücken.Der entsprechende Kurvenverlauf ist in Abb. 5.43b gezeigt. Die Beugungseffizienz ist jetztnicht mehr 100%, kann aber immer noch sehr hoch sein, wenn k 0 ∼ k 1 .Für praktische Anwendungenwird der Winkel β so gewählt, dass für die Mitte λ m des zu untersuchenden Wellenlängenbereichs ∆λdie Richtung des reflektierten Lichts mit der Richtung zusammenfällt, unter der das Interferenzmaximumm-ter Ordnung auftritt.5.7.3 Interferometrie durch Aufspalten der WellenamplitudeWir haben bis jetzt Interferometeranordnungen diskutiert, die auf der Aufspaltung der Wellenfront basierten.Eine zweite Klasse von Interferometern erzeugt die interferierenden Lichtbündel durch Aufspaltender Wellenamplitude mit Hilfe von teilreflektierenden Spiegeln. Für Messzwecke werden heuteüblicherweise Laser als Lichtquellen für solche Interferometer verwendet. Nur wenn Bildgebung alsTeil der Interferometrie verlangt wird (z.B. in der Interferenzmikroskopie), werden monochromatischeLichtquellen den Lasern vorgezogen.Jamin- und Mach-Zehnder Interferometer(a)Glasplatte(b)RSVakuum GasSRBGlasplatteARM 2RRM 1RS 2BAbbildung 5.44: (a) Jamin-Interferometer: An der Fläche R wird das Licht vollständig, an der FlächeS zur Hälfte reflektiert. Die Interferenz ist an den Ausgängen A und B zu messen. (b) Mach-ZehnderInterferometer: M 1 und M 2 sind Spiegel, S 1 und S 2 sind Strahlteiler, die zu 50% reflektieren.Diese Interferometer verwenden Teilreflexion an einem Strahlteiler, um zwei getrennte kohärenteLichtbündel zu erzeugen, die an einem zweiten Strahlteiler wieder zusammengeführt werden. Diec○Walther-Meißner-Institut