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Etude de capacités en couches minces à base d'oxydes métalliques ...

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tel-00141132, version 1 - 11 Apr 2007<br />

Chapitre 3 : <strong>Etu<strong>de</strong></strong> <strong>de</strong> <strong>capacités</strong> MIM <strong>à</strong> <strong>base</strong> <strong>de</strong> STO et BTO<br />

Les écarts-types mesuré et résiduel sont fusionnables. On suppose alors que les résultats<br />

obt<strong>en</strong>us suiv<strong>en</strong>t une loi normale dont l’écart-type est σfus = 5,70. Le nombre <strong>de</strong> <strong>de</strong>grés <strong>de</strong><br />

liberté <strong>de</strong> l’écart-type fusionné est égal <strong>à</strong> 9.<br />

Les coeffici<strong>en</strong>ts calculés par le logiciel LUMIERE® pour les variables réduites dans le cas du<br />

calcul ne pr<strong>en</strong>ant <strong>en</strong> compte que les <strong>de</strong>ux paramètres cités précé<strong>de</strong>mm<strong>en</strong>t sont prés<strong>en</strong>tés dans<br />

le Tableau 3-14.<br />

Tableau 3-14 : Valeurs <strong>de</strong>s coeffici<strong>en</strong>ts associés aux paramètres réduits du plan, calculées par le logiciel<br />

LUMIERE® - Cas <strong>de</strong> la constante diélectrique du STO, paramètres influ<strong>en</strong>ts pris <strong>en</strong> compte uniquem<strong>en</strong>t.<br />

Coeffici<strong>en</strong>ts et paramètres<br />

associés<br />

Valeurs<br />

a0 (constante) 93,9125<br />

a1 (T) 4,0625<br />

a2 (VCP) -5,0375<br />

3.3.3. Validation du plan d’expéri<strong>en</strong>ces<br />

Pour vali<strong>de</strong>r le plan d’expéri<strong>en</strong>ces, on effectue une prévision <strong>de</strong> la mesure ε0p au c<strong>en</strong>tre du<br />

domaine d’étu<strong>de</strong> d’après la loi <strong>de</strong> variation modélisée. On utilise <strong>en</strong>suite le test <strong>de</strong> la moy<strong>en</strong>ne<br />

pour comparer cette prédiction aux résultats expérim<strong>en</strong>taux obt<strong>en</strong>us.<br />

Dans ce cas, le coeffici<strong>en</strong>t <strong>de</strong> Stu<strong>de</strong>nt est t9 = 2,3. Le test <strong>de</strong> la moy<strong>en</strong>ne est vérifié, le modèle<br />

est donc validé (Figure 3-15).<br />

On vérifie que chaque valeur <strong>de</strong> la constante diélectrique mesurée est égale <strong>à</strong> la valeur estimée<br />

plus ou moins l’erreur δ avec δ = 12,9.<br />

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