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Etude de capacités en couches minces à base d'oxydes métalliques ...

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tel-00141132, version 1 - 11 Apr 2007<br />

Chapitre 2 : Elaboration <strong>de</strong> films <strong>minces</strong> <strong>de</strong> STO et BTO<br />

4.3. Procédé <strong>de</strong> dépôt<br />

4.3.1. Description du dispositif<br />

Le bâti utilisé pour cette étu<strong>de</strong> est un bâti Oxford 500 qui permet <strong>de</strong> réaliser <strong>de</strong>s dépôts par<br />

pulvérisation par faisceau d’ions assistée par faisceau d’ions, ou Dual Ion Beam Sputtering<br />

(DIBS).<br />

Il est constitué :<br />

• D’un canon <strong>à</strong> ions <strong>de</strong> pulvérisation principal,<br />

• D’un canon <strong>à</strong> ions d’assistance dirigé vers le porte-substrat,<br />

• D’un groupe <strong>de</strong> pompage constitué <strong>de</strong> <strong>de</strong>ux pompes primaires <strong>à</strong> palettes et <strong>de</strong> <strong>de</strong>ux<br />

pompes secondaires cryogéniques,<br />

• D’un système <strong>de</strong> chauffage par lampe jusqu’<strong>à</strong> 150°C,<br />

• D’un système d’étuvage par résistances chauffantes et <strong>de</strong> refroidissem<strong>en</strong>t par<br />

circulation d’eau <strong>de</strong> l’<strong>en</strong>ceinte,<br />

• De sept lignes <strong>de</strong> gaz : <strong>de</strong>ux par canon, une par neutraliseur, une dans l’<strong>en</strong>ceinte,<br />

• D’un <strong>en</strong>semble <strong>de</strong> contrôle <strong>de</strong> pression (jauge ionique <strong>à</strong> catho<strong>de</strong> chau<strong>de</strong>) et <strong>de</strong> débits<br />

(débitmètres massiques),<br />

• D’un porte-cible tournant <strong>à</strong> trois positions,<br />

• D’un porte-substrat <strong>de</strong> type satellite (rotation autour <strong>de</strong> <strong>de</strong>ux axes).<br />

Un schéma ainsi qu’une photo du dispositif expérim<strong>en</strong>tal sont prés<strong>en</strong>tés <strong>en</strong> Figure 2-22 et<br />

Figure 2-23 respectivem<strong>en</strong>t.<br />

Figure 2-22 : Schéma du dispositif <strong>à</strong> double faisceau d’ions.<br />

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