03.07.2013 Views

Etude de capacités en couches minces à base d'oxydes métalliques ...

Etude de capacités en couches minces à base d'oxydes métalliques ...

Etude de capacités en couches minces à base d'oxydes métalliques ...

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

tel-00141132, version 1 - 11 Apr 2007<br />

Chapitre 1 : Problématique<br />

Dans le cas d’une modélisation <strong>de</strong> type RC <strong>en</strong> parallèle, les pertes diélectriques sont définies<br />

par la relation suivante :<br />

δ<br />

ω R<br />

1<br />

tan = Équation 1-14<br />

p p C<br />

Avec Rp, la résistance du circuit équival<strong>en</strong>t, Cp, sa capacité et ω la fréqu<strong>en</strong>ce du signal<br />

alternatif.<br />

2.3.4. T<strong>en</strong>sion continue et courants <strong>de</strong> fuite<br />

Lorsqu’on applique une t<strong>en</strong>sion continue aux bornes d’un con<strong>de</strong>nsateur, <strong>de</strong>s courants <strong>de</strong> fuite<br />

apparaiss<strong>en</strong>t. Ces courants <strong>de</strong> fuite sont causés par différ<strong>en</strong>ts types <strong>de</strong> défauts liés au<br />

diélectrique lui-même ou <strong>à</strong> la structure du composant réalisé, qui vont permettre le passage<br />

d’électrons. En cherchant l’origine <strong>de</strong>s courants <strong>de</strong> fuite, les imperfections du con<strong>de</strong>nsateur<br />

peuv<strong>en</strong>t ainsi être déterminées.<br />

Les courants <strong>de</strong> fuite dans un con<strong>de</strong>nsateur peuv<strong>en</strong>t être principalem<strong>en</strong>t liés aux phénomènes<br />

<strong>de</strong> conduction suivant :<br />

• L’émission thermoélectronique ou effet Schottky (voie 1 <strong>de</strong> la Figure 1-10) : <strong>de</strong>s<br />

porteurs <strong>de</strong> charge sont injectés <strong>de</strong>puis l’électro<strong>de</strong> métallique dans le diélectrique <strong>en</strong> passant<br />

au-<strong>de</strong>ssus <strong>de</strong> la barrière <strong>de</strong> pot<strong>en</strong>tiel résultant <strong>de</strong> l’interface métal/diélectrique.<br />

• Le courant tunnel ou effet Fowler-Nordheim (voie 2 et 3 <strong>de</strong> la Figure 1-10) : il s’agit<br />

d’un effet quantique qui autorise un électron <strong>à</strong> franchir une barrière <strong>de</strong> pot<strong>en</strong>tiel supérieure <strong>à</strong><br />

son énergie. Les porteurs <strong>de</strong> charge se propag<strong>en</strong>t d’une armature <strong>à</strong> l’autre du con<strong>de</strong>nsateur <strong>à</strong><br />

travers le diélectrique.<br />

• L’effet Poole-Fr<strong>en</strong>kel (Figure 1-11) : ce mécanisme dép<strong>en</strong>d <strong>de</strong> la <strong>de</strong>nsité <strong>de</strong> défauts<br />

(pièges) prés<strong>en</strong>ts dans le diélectrique. Les électrons se propag<strong>en</strong>t par sauts <strong>en</strong>tre états localisés<br />

dans la ban<strong>de</strong> interdite du diélectrique. Ces états localisés sont supposés être <strong>de</strong>s c<strong>en</strong>tres<br />

ionisés (donneurs d’électrons). Cet effet résulte <strong>de</strong> l’abaissem<strong>en</strong>t <strong>de</strong> l’énergie d’ionisation Ei<br />

<strong>de</strong> ces c<strong>en</strong>tres avec l’application d’un champ électrique.<br />

• La limitation par charge d’espace : elle intervi<strong>en</strong>t lorsque le taux d’injection <strong>de</strong>s<br />

porteurs <strong>à</strong> l’interface métal/diélectrique est supérieur au taux maximum <strong>de</strong> transfert <strong>de</strong> ces<br />

charges dans le diélectrique. Il y a alors création d’une zone <strong>de</strong> charge d’espace qui s’oppose<br />

<strong>à</strong> l’injection <strong>de</strong> nouveaux porteurs.<br />

24

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!