Etude de capacités en couches minces à base d'oxydes métalliques ...
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tel-00141132, version 1 - 11 Apr 2007<br />
Chapitre 5 : Influ<strong>en</strong>ce du procédé d’élaboration <strong>de</strong>s <strong>capacités</strong> sur leurs performances<br />
Jfuite (A/cm²)<br />
-0,8<br />
Or<br />
Pt<br />
Injection via Esup<br />
-0,6<br />
-0,4<br />
-0,2<br />
1,E-03<br />
1,E-04<br />
1,E-05<br />
1,E-06<br />
1,E-07<br />
1,E-08<br />
1,E-09<br />
0,0<br />
0,2<br />
Champ Electrique Appliqué (MV/cm)<br />
0,4<br />
+ recuit<br />
<strong>de</strong><br />
guérison<br />
Figure 5-12 : Evolution <strong>de</strong>s courants <strong>de</strong> fuite avec le champ électrique appliqué pour les échantillons ayant<br />
subi le recuit <strong>de</strong> cristallisation du STO avant dépôt <strong>de</strong> l’électro<strong>de</strong> supérieure (Au ou Pt) –<br />
Les symboles pleins correspon<strong>de</strong>nt aux mesures après recuit <strong>de</strong> guérison, et les vi<strong>de</strong>s aux mesures avant<br />
recuit <strong>de</strong> guérison.<br />
L’effet du recuit <strong>de</strong> guérison est très nettem<strong>en</strong>t visible, particulièrem<strong>en</strong>t lors <strong>de</strong> l’injection via<br />
l’électro<strong>de</strong> supérieure où l’on passe d’<strong>en</strong>viron 10 -4 A/cm² <strong>à</strong> 3.10 -8 A/cm² pour un champ <strong>de</strong><br />
0,4 MV/cm (soit presque un gain <strong>de</strong> quatre déca<strong>de</strong>s) dans le cas du Pt. Il permet <strong>de</strong> réduire les<br />
courants <strong>de</strong> fuite et d’obt<strong>en</strong>ir une meilleure symétrie <strong>de</strong>s courbes surtout dans le cas <strong>de</strong><br />
l’électro<strong>de</strong> <strong>de</strong> Pt. On obti<strong>en</strong>t alors une <strong>de</strong>nsité <strong>de</strong> courant inférieure <strong>à</strong> 10 -7 A/cm² <strong>à</strong> 3 V (soit<br />
0,67 MV/cm).<br />
La caractéristique <strong>de</strong> l’empilem<strong>en</strong>t Au/STO/Pt n’est quant <strong>à</strong> elle pas symétrique même si les<br />
courants <strong>de</strong> fuite sont diminués grâce au recuit <strong>de</strong> guérison.<br />
La Figure 5-113 prés<strong>en</strong>te l’évolution <strong>de</strong>s courants <strong>de</strong> fuite <strong>en</strong> fonction du champ électrique<br />
appliqué dans le cas où l’électro<strong>de</strong> supérieure est déposée avant la cristallisation du STO.<br />
Comme pour les caractéristiques C(V) l’effet du recuit <strong>de</strong> guérison est faible, les défaut créés<br />
lors du dépôt <strong>de</strong> l’électro<strong>de</strong> ayant pu être « guéris » par le recuit <strong>de</strong> cristallisation.<br />
Après le recuit <strong>de</strong> guérison, les niveaux <strong>de</strong> courant mesurés sont plus élevés que lorsque<br />
l’électro<strong>de</strong> est déposée sur STO cristallisé, <strong>de</strong> l’ordre <strong>de</strong> 10 -6 A/cm² <strong>à</strong> 3 V.<br />
On observe, comme dans le cas <strong>de</strong> l’électro<strong>de</strong> déposée sur STO cristallisé, une meilleure<br />
symétrie <strong>de</strong>s courbes représ<strong>en</strong>tatives <strong>de</strong> l’empilem<strong>en</strong>t tout Pt. Le choix du métal d’électro<strong>de</strong><br />
est donc d’importance lors <strong>de</strong> la réalisation <strong>de</strong> nos <strong>capacités</strong>.<br />
0,6<br />
0,8<br />
193