Etude de capacités en couches minces à base d'oxydes métalliques ...

tel-00141132, version 1 - 11 Apr 2007
Chapitre 4 : Lien entre structure cristallographique et propriétés électriques
K
150
145
140
135
130
125
120
115
110
105
100
300 350 400 450 500 550
Temperature (K)
Exp. K
(model K)/4,41
Figure 4-23 : Evolution de la constante diélectrique du BTO en fonction de la température de mesure –
expérience et modèle.
L’aspect général de la courbe expérimentale est bien décrit par le modèle, particulièrement si
on la compare au BTO massif. Le point le plus important est le fait que le pic de la constante
diélectrique à la température de Curie-Weiss habituellement observé pour le BTO massif
disparaît ici. Néanmoins, on peut noter une anomalie de la courbe expérimentale près de la
température de Curie-Weiss du massif (TC = 393 K), qui n’est pas expliquée par le modèle.
Figure 4-24 : Observation MEB en coupe de l’empilement réalisé.
D’après ces résultats, il semble évident qu’une approche phénoménologique pour les couches
minces requiert des mesures spécifiques des paramètres de l’énergie de Gibbs. Certains
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