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Etude de capacités en couches minces à base d'oxydes métalliques ...

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tel-00141132, version 1 - 11 Apr 2007<br />

Chapitre 3 : <strong>Etu<strong>de</strong></strong> <strong>de</strong> <strong>capacités</strong> MIM <strong>à</strong> <strong>base</strong> <strong>de</strong> STO et BTO<br />

0r<br />

εεr<br />

120,0<br />

100,0<br />

80,0<br />

60,0<br />

40,0<br />

20,0<br />

0,0<br />

ε estimé − δ < ε mesuré < ε estimé + δ<br />

3 4 5 6 8 9 10 11 1 2 7 12 13<br />

n° expéri<strong>en</strong>ce<br />

mesure<br />

estimation<br />

Figure 3-15 : Comparaison <strong>en</strong>tre les constantes diélectriques mesurées et estimées – cas du STO.<br />

La loi <strong>de</strong> variation donnée par le plan d’expéri<strong>en</strong>ces pour les variables non réduites est :<br />

Où T est exprimée <strong>en</strong> °C et VCP <strong>en</strong> V.<br />

εεεεr = 109.979 + 0,0650.T - 0,0149.VCP Équation 3-20<br />

Comme dans le cas du BTO, le coeffici<strong>en</strong>t associé <strong>à</strong> la température est positif : la constante<br />

diélectrique augm<strong>en</strong>te donc avec la température <strong>de</strong> dépôt. Le coeffici<strong>en</strong>t associé <strong>à</strong> la t<strong>en</strong>sion<br />

du canon est quant <strong>à</strong> lui négatif : une diminution <strong>de</strong> la t<strong>en</strong>sion permet d’améliorer la constante<br />

diélectrique.<br />

3.3.4. Discussion<br />

L’augm<strong>en</strong>tation <strong>de</strong> la température <strong>de</strong> dépôt <strong>en</strong>g<strong>en</strong>dre une augm<strong>en</strong>tation <strong>de</strong> la constante<br />

diélectrique. Comme pour le BTO, l’une <strong>de</strong>s possibilités pour expliquer cela est la différ<strong>en</strong>ce<br />

<strong>de</strong> <strong>de</strong>nsité selon la température <strong>de</strong> dépôt. La <strong>de</strong>nsité <strong>de</strong> nos matériaux mériterai<strong>en</strong>t donc d’être<br />

étudiée plus <strong>en</strong> détails. Il peut égalem<strong>en</strong>t s’agir <strong>de</strong> phénomènes interv<strong>en</strong>ant aux interfaces<br />

acc<strong>en</strong>tués par l’augm<strong>en</strong>tation <strong>de</strong> la température.<br />

En ce qui concerne la t<strong>en</strong>sion <strong>de</strong> faisceau du canon principal, une augm<strong>en</strong>tation a un effet<br />

négatif sur la constante diélectrique. Ceci peut être dû au fait que lorsque la t<strong>en</strong>sion augm<strong>en</strong>te,<br />

les ions Xe + inci<strong>de</strong>nts transmett<strong>en</strong>t plus d’énergie aux atomes <strong>de</strong> la cible. Si les atomes<br />

arriv<strong>en</strong>t sur le substrat avec une énergie plus faible, cela peut permettre d’avoir <strong>de</strong>s dépôts<br />

moins contraints. Or <strong>de</strong>s étu<strong>de</strong>s ont montré que le niveau <strong>de</strong> contrainte dans les <strong>couches</strong> a une<br />

influ<strong>en</strong>ce sur la constante diélectrique [19].<br />

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