Etude de capacités en couches minces à base d'oxydes métalliques ...

tel-00141132, version 1 - 11 Apr 2007
Chapitre 4 : Lien entre structure cristallographique et propriétés électriques
2.2.2. Techniques de caractérisation physico-chimique .........................................163
2.2.3. Techniques de caractérisation électrique......................................................164
2.3. Caractérisation cristallographique .......................................................................164
2.3.1. Spectres de diffraction X .............................................................................164
2.3.2. Analyse en température ...............................................................................166
2.3.3. Modélisation ...............................................................................................168
2.3.4. Comparaison modèle - expérience ...............................................................170
2.4. Conclusion..........................................................................................................172
3. Conclusion du chapitre ..............................................................................................173
Bibliographie......................................................................................................................175
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