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Etude de capacités en couches minces à base d'oxydes métalliques ...

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tel-00141132, version 1 - 11 Apr 2007<br />

Chapitre 1 : Problématique<br />

Cette approche In IC (littéralem<strong>en</strong>t, dans les circuits intégrés) prés<strong>en</strong>te plusieurs avantages<br />

[7] :<br />

• Un gain <strong>de</strong> place,<br />

• Un bénéfice au niveau électrique <strong>en</strong> réduisant les inductances parasites,<br />

• Les industriels peuv<strong>en</strong>t égalem<strong>en</strong>t créer <strong>de</strong>s composants avec les spécifications<br />

désirées sans avoir <strong>à</strong> choisir parmi les composants standards proposés par les<br />

fabricants.<br />

Une nouvelle direction a <strong>en</strong>suite été prise avec le développem<strong>en</strong>t <strong>de</strong> la capacité MIM<br />

(Métal/Isolant/Métal) au lieu <strong>de</strong> la capacité MIS (Métal/Isolant/Semi-conducteur). En effet,<br />

celle-ci s’inscrit dans l’approche que l’on appelle Above IC (littéralem<strong>en</strong>t, au-<strong>de</strong>ssus <strong>de</strong>s<br />

circuits intégrés), dans laquelle les composants passifs sont réalisés directem<strong>en</strong>t <strong>à</strong> la suite <strong>de</strong>s<br />

niveaux actifs, sur le même substrat. Cela correspond <strong>à</strong> une évolution vers l’intégration<br />

verticale schématisée dans la Figure 1-4. Par rapport <strong>à</strong> l’approche In IC, cette approche<br />

permet <strong>en</strong>tre autre <strong>de</strong> réduire la capacité parasite, le con<strong>de</strong>nsateur étant situé plus loin du<br />

substrat.<br />

Figure 1-4 : Schématisation <strong>de</strong> l’intégration verticale <strong>de</strong>s composants. [8]<br />

2. La capacité MIM (Métal/Isolant/Métal)<br />

2.1. Définitions<br />

2.1.1. Propriétés physiques<br />

La polarisation P r est, par définition, le mom<strong>en</strong>t dipolaire par unité <strong>de</strong> volume :<br />

17

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