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2.5.4 Outras Caracterizações<br />

2.5.4.1 Difração de Raios-X<br />

Para obter <strong>da</strong>dos de difração de Raios X dos sist<strong>em</strong>as vítreos foram prepara<strong>da</strong>s amostras <strong>na</strong><br />

forma de pó com granulometria de 64 microns.<br />

O equipamento usado consiste de um difratômetro automatizado PHILIPS, com goniômetro<br />

modelo PW1820, gerador de alta tensão PW1830 e uni<strong>da</strong>de de controle PW1710. Está<br />

equipado com um tubo de radiação de Cobre com monocromador de grafite usando a linha<br />

característica Kα (λ= 1,54056).<br />

A interpretação dos difratogramas foi feita com o auxílio do programa de aquisição e<br />

análise automáticas, PC-APD (A<strong>na</strong>litical Powder Diffraction Software), adquirido junto<br />

com o difratômetro. Na análise foi utilizado um banco de <strong>da</strong>dos <strong>em</strong> CD-ROM, usando o<br />

programa PC<strong>PDF</strong>WIN vs 2.1.<br />

2.5.4.2 Densi<strong>da</strong>de<br />

Medimos a densi<strong>da</strong>de de todos nossos vidros fazendo uso do método de Arquimedes com<br />

um sist<strong>em</strong>a especialmente construído <strong>em</strong> nosso laboratório, que fazia uso de uma balança<br />

a<strong>na</strong>lítica de alta precisão e água como líquido de referência.<br />

2.5.4.3 Microscopia Eletrônica de Varredura.<br />

Fez-se uso de um Microscópio Eletrônico de Varredura do LNLS Jeol modelo JSM 5900<br />

LV usando voltag<strong>em</strong> de 30 kV com análise EDS Voyager.<br />

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