1766_Staras ir kt_Placiajuosciu_WEB.pdf - Vilniaus Gedimino ...

256 5. Plačiajuosčių lėtinimo sistemų tyrimas naudojant universalią programinę įrangą5.54 pav. Dažninės amplitudės charakteristikos: 1 – plokštuminės simetrijossistemos, 2 – ašinės simetrijos sistemosdaugialaidžių linijų metodu gauti ašinės simetrijos meandrinių sistemų tyrimorezultatai.Kaip keičiasi plokštuminės ir ašinės simetrijos sistemų savybės, padidinusatstumą tarp meandrinių elektrodų 2w, rodo 5.55 ir 5.56 pav. pateikti tyrimo rezultatai.Rezultatų analizė ir jų lyginimas su 5.53 ir 5.54 pav. pateiktais rezultataispatvirtina mintį, kad, kai atstumas tarp sistemos meandrinių elektrodų pasidarodidesnis už tarpą tarp meandro laidininkų, ašinės simetrijos sistemos savybės(5.55 ir 5.56 pav., 2-osios kreivės) tampa panašesnės į plokštuminės simetrijossistemos savybes (5.55 ir 5.56 pav., 1-osios kreivės).MicroWave Studio programų paketo taikymas meandrinėms lėtinimo sistemomstirti parodė šio paketo taikymo naudą: be sudėtingų analitinių išraiškųgalima ištirti ir palyginti nesimetrinių bei plokštuminės ir ašinės simetrijosmeandrinių lėtinimo sistemų savybes. Tyrimo rezultatai patvirtino ankstesniųanalitiniais metodais gautų tyrimų rezultatus.5.55 pav. Lėtinimo koeficientų dažninės priklausomybės, apskaičiuotos tarpmeandrinių elektrodų didinant atstumą nuo 2w iki 0,7 mm: 1 – plokštuminėssimetrijos sistema (5.50 pav.), 2 – ašinės simetrijos sistema (5.52 pav.)