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104 CAPÍTULO 7
Figura 7.1 — Dimensões aproximadas dos defeitos encontrados
nos materiais (segundo M.A. Meyers e K.K. Chawla).
necessário um conjunto de técnicas complementares. Dentre as técnicas utilizadas
destaca-se a microscopia. Atualmente, existem vários tipos de microscópio,
sendo mais conhecidos o microscópio óptico, o microscópio eletrônico
de varredura, o microscópio eletrônico de transmissão, o microscópio de
campo iônico e o microscópio de tunelamento eletrônico. Com auxílio destes
diversos tipos de microscopia pode-se observar as características, determinar
a quantidade e estudar a distribuição dos defeitos cristalinos. A seguir são
apresentadas as faixas de aumento típicas em cada tipo de microscópio:
• microscópio óptico: 50 a 3000 vezes;
• microscópio eletrônico de varredura: 5 a 50000 vezes;
• microscópio eletrônico de transmissão: 5000 a 300000 vezes;
• microscópio de campo iônico: 1000000 vezes;
• microscópio de tunelamento eletrônico: 300000000 vezes.
Além de faixas de aumento diferentes, eles apresentam características
diferentes e propiciam a obtenção de informações complementares sobre a
microestrutura dos materiais. Os defeitos cristalinos alteram várias propriedades
dos materiais e isto torna possível o estudo destes defeitos por meio do
estudo da variação destas propriedades. Por exemplo, os defeitos puntiformes
podem ser estudados com auxílio de determinações de resistividade elétrica.