flotox - Bibliothèque Ecole Centrale Lyon - École Centrale de Lyon

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- 158 -ioyS.nV7fof4f3fBED 10 - 92 207COURBE EXPERZMEJ4TALECOURBE THEORZOUE2oCTENSION OECRITURE en V9 9 9 2C Co - - N N N N N N-2FIGURE 3-1Cycle "non cumulatif" d'écriture2 Ye Sn y -1.JIENOION OEFFACENENT en V9 9 2 2 ;o --N-2 SEO io sx 257i:COURBE EXPERIMENTALE_-_ COURBE THEORIQUE, T- IONSFIGURE 3-2 : Cycle "non cumulatif" d'effacement
111.2 CYCLES DE PROGRAMMAhTIONLors de la programmation d'un dispositifamené, soit à écrire le dispositif, soit à l'effacerFlotox, on est; on modifie ainsila tension de seuil du dispositif vers une tension de seuil "haute"(écriture) ou une tension de seuil "basse"(effacement)..Pour une valeur de tension de programmation et un temps deprogrammation donnés, l'ensemble des valeurs tension de "seuil haute"et tension de "seuil basse" constituent ce que l'on convient d'appelerla fenêtre mémoire.Pour rendre compte expérimentalement de cette fenêtre onpeut réaliser des "cycles non cumulatifs", tels ceux présentés parles figures 3-1, 3-2 et décrits au chapitre précédent, ou bien encoreréaliser des "cycles cumulatif s"Ces cycles cumulatifs présentent l'avantage d'être facilesà mettre en oeuvre et consistent à mesurer la tension de seuil dudispositif pour des valeurs progressives de la tension de programmationdu dispositif sans revenir à chaque mesure à la tension de seuilinitiale.Ce type de cycle permet de bien rendre compte desdifférentes fenêtres pour les différentes tensions de programmationutilisées. L'aspect "cumulatif" ne fausse pas les résultats, en effet,on vérifie aisément qu'une petite série d'écriture (ou d'effacement)n'altère que légèrement la valeur réelle de la tension de seuil.L'erreur de mesure sur la fenêtre due à cette méthode est inférieure à5% pour les derniers points du cycle et inférieure à 1% pour lespremiers points.
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