flotox - Bibliothèque Ecole Centrale Lyon - École Centrale de Lyon

Lorsque l'on élève la température et que l'oneffectue des mesures de rétention, on constate que la perted'information n'est que peu accélérée dans le tempsjusqu'à une centaine d'heures et pour une température de200°C, la tension de seuil des dispositifs ne variepratiquement pas quelle que soit la tension de seuil de cesdispositifs. Au-delà d'une centaine d'heures, lesdispositifs dont les tensions de seuil "haute" ou "basse"sont importantes laissent apparattre un léger fléchissementde la quantité de charges stockées. Toutefois, comme lemontre la figure 3-11, un dispositif écrit à 7 V a encoreune tension de seuil de 63 V au bout de 42 jours à 200°C,tandis que pour une tension de seuil basse de - 2 V, on neconstate aucun changement.Ce faible effet de la température sur la rétentionest dû à la très faible part que celle-ci prend dans laconduction du type Fowler-Nordheim (cf chapitre II).111.5.2 Rétention sous polarisationLors de l'utilisation des dispositifs Flotox encircuit, et en dehors des phases de programmation, les zonesdiffusées ou la grille de commande du transistor Flotoxpeuvent atre soumises à la tension d'alimentation du circuit(5 V) soit en permanence, soit de façon répétée. La présencede cette tension peut conduire à une perte d'informationsdans deux cas