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flotox - Bibliothèque Ecole Centrale Lyon - École Centrale de Lyon

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- 232 -- lors <strong>de</strong> la mise en mémoire non volatile, latension d'alimentation VDD normalement à 5Vpasse à une haute valeur <strong>de</strong> tension (<strong>de</strong>l'ordre <strong>de</strong> 20V). Sil'on suppose le noeudNB dans l'état haut et NA dans l'état bas(0V), NB va passer à une haute tension.Ainsi la grille <strong>de</strong> contr6le <strong>de</strong> 15 sera à 0V,tandis que ses source et drainseront à unehaute tension. De cette manière on chargerapositivement la grille flottante. (15 passant).Dans le cas inverse (NA dans l'étathaut et NB dans l'état bas), les source etdrain <strong>de</strong> 15 seront à 0V tandis que sa grille<strong>de</strong> contr6le sera à la "haute tension", ainsion chargera négativement la grille flottante(T5 bloqué).Lors du repositionnement, siest passant, 16 est shunté et laprésentée par Tprésentée par T3résistanceest inférieure â celleet donc la tension au noeudNB montera plus rapi<strong>de</strong>ment que NA, provoquantla conduction <strong>de</strong> T ; ainsi les cellulesretrouveront l'état qui avait été stocké. Si 15est bloqué, la résistance présentéepar T, Test supérieure à celle présentée par T3 et doncla tension sur le noeud NA montera plus rapi<strong>de</strong>mentque NB provoquant la conduction <strong>de</strong>T2De nombreuses autres cellules réa liséesen technologie canal N, ont été proposéeset reposent sur le principe du déséquilibre <strong>de</strong>sbranches cii bistable. [*61 [*71

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