Metodi e strumenti di misura per l'esecuzione di test non distruttivi ...

Capitolo 3 Sviluppo ed ottimizzazione del sistema basato sulla Sonda Fluxset
Il chip di generazione è lo stesso usato nella WGU, permettendo anche in questo caso di
generare segnali sinusoidali, triangolari e quadri. In questo caso sono però necessari valori di
corrente più elevati cosicché a parità di prodotto banda guadagno si ha una riduzione della
banda. In particolare, la corrente può essere variata con step di 10mA fino ad un valore
Massimo di 1A, mentre la frequenza può essere variata fino a 20kHz utilizzando un prescaler
che divide il segnale di sincronizzazione di questa unità da 2 a 500 con step di 1.
3.3.4 L’unità di pilotaggio dei motori
E’ oramai evidente che un sistema che esegua test non distruttivi utilizzando sonde del tipo a
tastatore (come la sonda fluxset realizzata), necessita di un sistema di movimentazione che
permetta di scandire il pezzo in esame al fine di ottenere tutte le informazioni necessarie ad
identificare e caratterizzare l’eventuale difetto presente. In particolare, la sonda deve essere
posizionata nel punto di misura, in cui deve rimanere per il tempo necessario al
completamento del processo di acquisizione, per poi essere posizionata nel successivo punto
di misura. I punti di misura sono generalmente (ma non esclusivamente) posizionati lungo
linee o griglie regolari ed il sistema NDT deve poter controllare la distanza tra i punti.
La scansione può essere eseguita sia usando sistemi di scansione complessi che pilotando
direttamente degli appropriate motori passo passo. Il sistema NDT realizzato permette di
gestire entrambe queste strategie di scansione. In particolare, l’unità MDU permette di
controllare tre motori passo passo fornendo una corrente massima di 3° per fase. Se
necessario questa unità lascia la gestione della scansione ad un sistema di scansione dedicato.
Questo è proprio ciò che accade nell’attuale configurazione del apparato realizzato in cui lo
strumento è connesso ad un sistema di scansione realizzato ad hoc dal Research Institute for
Technical Physics and Material Science (Hungary). Questo permette di variare sia l’intervallo
di tempo tra due punti di misura (con un valore minimo di 10ms) che il passo di scansione
(con una risoluzione di 0.1mm). In tab. 3.3 sono riportate le caratteristiche salienti del sistema
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