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Metodi e strumenti di misura per l'esecuzione di test non distruttivi ...

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Conclusioni<br />

Nell’ambito dei Test Non Distruttivi, l’attività <strong>di</strong> ricerca ha portato allo sviluppo <strong>di</strong> due<br />

sistemi <strong>per</strong> la <strong>di</strong>agnostica <strong>non</strong> invasiva <strong>di</strong> materiali conduttori, basati sulla tecnica delle<br />

correnti indotte (ECT).<br />

Il primo sistema è costituito, come tutti i sistemi ECT attualmente in commercio, da uno<br />

strumento e da una sonda, appositamente progettati e realizzati. La sonda, basata sul sensore<br />

<strong>di</strong> campo magnetico fluxset, viene alimentata dallo strumento che gestisce automaticamente la<br />

sessione <strong>di</strong> <strong>test</strong>, acquisisce ed elabora le informazioni <strong>di</strong> <strong>misura</strong> e fornisce le in<strong>di</strong>cazioni sulla<br />

<strong>di</strong>fettosità del componente <strong>test</strong>ato.<br />

Questo sistema ha mostrato <strong>di</strong> poter facilmente valutare la presenza e la posizione <strong>di</strong> <strong>di</strong>fetti sia<br />

su<strong>per</strong>ficiali che sottosu<strong>per</strong>ficiali entro limiti più ampi degli <strong>strumenti</strong> in uso. La caratteristica<br />

che rende questo sistema competitivo è <strong>per</strong>ò costituita dalla quantità e qualità delle<br />

informazioni estraibili dalla prova, che <strong>per</strong>mettono <strong>di</strong> identificare le caratteristiche<br />

geometriche dei <strong>di</strong>fetti, in termini <strong>di</strong> forma e <strong>di</strong>mensioni. Questo è reso possibile me<strong>di</strong>ante<br />

l’ausilio <strong>di</strong> un algoritmo basato sulle Support Vector Machine (SVM) appositamente<br />

sviluppato. Questo aspetto rappresenta la vera sfida tecnologica, <strong>non</strong> essendo <strong>di</strong>sponibile una

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