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Metodi e strumenti di misura per l'esecuzione di test non distruttivi ...

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Capitolo 3 Sviluppo ed ottimizzazione del sistema basato sulla Sonda Fluxset<br />

messa a punto una tecnica basata su Support Vector Machine (SVM), <strong>per</strong> la stima della forma<br />

e delle caratteristiche geometriche dei <strong>di</strong>fetti, che cade nella categoria dei meto<strong>di</strong> model-free.<br />

Gli stimoli giusti alla fattibilità <strong>di</strong> questa procedura <strong>di</strong> analisi sono stati forniti dai risultati<br />

ottenuti durante le fasi <strong>di</strong> <strong>test</strong> dello strumento realizzato (c.f.r. §3.3).<br />

Lo sviluppo <strong>di</strong> un algoritmo capace <strong>di</strong> analizzare le mappe <strong>di</strong> campo magnetico e fornire, in<br />

modo automatico ed oggettivo, le caratteristiche dell’eventuale <strong>di</strong>fetto, necessita <strong>di</strong> una<br />

preliminare fase <strong>di</strong> stu<strong>di</strong>o del comportamento delle mappe <strong>di</strong> campo al variare dei <strong>di</strong>fetti.<br />

Affinché ciò sia possibile è necessario avere a <strong>di</strong>sposizione un consistente numero <strong>di</strong> risultati<br />

da elaborare ed interpretare. Questa fase potrebbe essere compiuta <strong>per</strong> via s<strong>per</strong>imentale<br />

eseguendo numerose prove su pezzi <strong>di</strong>versi con <strong>di</strong>fferenti tipologie <strong>di</strong> <strong>di</strong>fetti noti.<br />

Bisognerebbe <strong>per</strong>ò avere a <strong>di</strong>sposizione un gran numero <strong>di</strong> campioni <strong>di</strong> materiali conduttore,<br />

con <strong>di</strong>fetti noti <strong>di</strong> varia forma e giacitura e, <strong>per</strong> ogni tipologia <strong>di</strong> <strong>di</strong>fetto, bisognerebbe <strong>test</strong>are<br />

il sistema anche su campioni <strong>di</strong> materiali <strong>di</strong>versi. Come è facilmente intuibile un’indagine <strong>di</strong><br />

questo tipo comporta un notevole impegno sia in termini economici che in termini <strong>di</strong> tempo <strong>di</strong><br />

esecuzione dei <strong>test</strong>, oltre alle <strong>di</strong>fficoltà relative alla realizzazione <strong>di</strong> campioni con <strong>di</strong>fetti noti<br />

interni.<br />

L’idea risolutiva è costituita dal passaggio ad un ambiente <strong>di</strong> simulazione, come spesso<br />

accade nella soluzione <strong>di</strong> problemi progettuali e <strong>di</strong> ricerca, attraverso il quale si possa ottenere<br />

la virtuale risposta dei sensori nelle con<strong>di</strong>zioni più <strong>di</strong>sparate.<br />

Ovviamente, propedeutica alla fase <strong>di</strong> caratterizzazione è <strong>di</strong> fondamentale importanza<br />

effettuare una verifica <strong>di</strong> rispondenza dei dati ottenuti in simulazione con quelli s<strong>per</strong>imentali.<br />

3.4.1 Il software <strong>di</strong> simulazione<br />

Per ottenere le mappe <strong>di</strong> campo è necessario avere a <strong>di</strong>sposizione un software <strong>di</strong> simulazione<br />

<strong>per</strong> la soluzione <strong>di</strong> problemi elettromagnetici che, oltre ad essere in grado <strong>di</strong> risolvere<br />

numericamente il problema fisico, <strong>di</strong>a la possibilità <strong>di</strong> variare i parametri <strong>di</strong> forzamento in<br />

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